存储器测试仪的硬件设计.pdfVIP

xxxxxxxxxxxxxxxxx 毕业论文 （设计） 题 目：存储器测试仪的硬件设计 系部名称： 专业班级： 学生姓名： 学 号： 指导教师： 教师职称： 年 月 日 中原工学院信息商务学院毕业论文 （设计） 摘 要 随着当前移动存储技术的快速发展和移动存储市场的高速扩大，存储器的用量迅 速增长。集成芯片由于其便携、可靠、成本低等优点，在移动产品中非常适用。市场 的需求催生了一大批集成芯片研发、生产、应用企业。为保证芯片长期可靠的工作， 这些企业需要在产品出厂前对存储器进行高速和细致地测试，因此，对于存储器测试 的研究就显得十分必要。 为解决测试中的这些问题，人们提出了应用内建自测试或利用嵌入式软件等测试 方法测试相关性能，都取得了比较好的效果，但这些方法大多不适用于利用测试仪进 行批量的产品测试。而多数对通用存储器测试很有效的算法，由于受到FLASH器件自 身的限制 （如不能不能直接从 “0”写为 “1”），很难直接适用于FLASH 测试。 目前企业中需要对不同批次的存储器进行样品检测，避免因不同批次关键器件参 2 数差异带来的批量故障损失。常用存储器包含E PROM 和FLASH，一般的检测方法 是将新批次的芯片直接焊接到产品中进行验证，这样验证既不充分，又比较麻烦。为 2 了解决这个问题，本文设计了一个专用测试工装，测试工装上预留支持E PROM 和 2 FLASH 插拔的转接座，测试工装可以对E PROM 和FLASH 的通讯速率、读写延时 进行手工配置测试，可以对读写、擦除过程进行测试。 E PROM FLASH 关键字：存储器， ² ， ，测试 I 中原工学院信息商务学院毕业论文 （设计） Thehardwaredesignofmemory tester Abstract With the rapid development of the current mobile storage technology and high-speed mobile storage market expanding, the amount of memory to grow rapidly. Integrated chip because of itsportable,reliable, low cost advantages,very suitable in the mobileproducts. The demand ofthemarket has given rise to a large number of integrated chip research and development, production, application of enterprises. To ensure long-term reliable work, theseenterprisesneedtohigh speed and storagebeforetheproductsleavethe factory detail test,therefore,for thememorytestresearch isvery necessary. To solve these problems