涂层测厚仪作业指导书.docVIP

PAGE 1/ NUMPAGES 7 厦门明翰电气股份 厦门明翰电气股份有限公司 质量环境管理文件 涂层测厚仪作业指导书 编号： MHMI0522 实施日期： 2011 年 7 月 1 日 版本：1.0 受控状态： 起 草： 审 核： 批 准： 1．目的 规范涂层测厚仪的作业规程。 2．适用范围 本文件适用铁磁性钣金件表面的油漆层及镍铬在内的各种有色金属电镀层厚度测量工作。 3．定义 涂层测厚仪的测厚原理： 磁性法：当测头与覆盖层接触时，测头和磁性金属基体构成闭合磁路，由于非磁性覆盖层的存在，使磁路磁阻变化，通过测量其变化可导出覆盖层的厚度。 涡流法：利用高频交变电流在线圈中产生一个电磁场，当测头与覆盖层接触时，金属基体上产生电涡流，并对测头中的线圈产生反馈作用，通过测量反馈作用的大小可导出覆盖层的厚度。 4．职责 质量管理部：负责本文件的制定、完善和执行，负责本检测设备的维护、保养及校正工作。 注：本仪器使用者必须先熟读本作业指导书，按照规程进行操作。 5．仪器各部分介绍 5.1.仪器主体各部分名称 5.2测头各部分名称 5.3屏幕显示说明 6.仪器的校准 6.1校准标准片（包括箔和基体） 已知厚度的箔或已知覆盖层厚度的试样均可作为校准标准片。简称标准片。 6.1.1校准箔 对于磁性方法，“箔”是指非磁性金属或非金属的箔或垫片。“箔”有利于曲面上的校准，而且比用有覆盖层的标准片更合适。 6.1.2基体 6.1.2.1对于磁性方法，标准片基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与待测试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。为了证实标准片的适用性，可用标准片的基体金属与待测试件基体金属上所测得的读数进行比较。 6.1.2.2如果待测试件的金属基体厚度没有超过附表1中所规定的临界厚度，可采用下面两种方法进行校准： a) 在与待测试件的金属基体厚度相同的金属标准片上校准； b) 用一足够厚度的，电学性质相似的金属衬垫金属标准片或试件，但必须使基体金属与衬垫金属之间无间隙。对两面有覆盖层的试件，不能采用衬垫法。 6.1.2.3如果待测覆盖层的曲率已达到不能在平面上校准，则有覆盖层的标准片的曲率或置于校准箔下的基体金属的曲率，应与试样的曲率相同。 6.2校准方法 本仪器常用的有两种测量中使用校准方法: 零点校准、二点校准。二点校准法又分一试片法和二试片法。 6.2.1零点校准 6.2.1.1在基体上进行一次测量，屏幕显示＜×.×μm＞。 6.2.1.2按ZERO 键，屏显0.0。校准已完成，可以开始测量了。 6.2.1.3重复上述a、b 步骤可获得更为精确的零点，高测量精度。零点校准完成后就可进行测量了。 6.2.2 6.2.2.1 这一校准法适用于高精度测量及小工件、淬火钢、合金钢。 a) 先校零点（如上述）。 b) 在厚度大致等于预计的待测覆盖层厚度的标准片上进行一次测量，屏幕显示＜×××μm＞。 c) 用↑、↓键修正读数，使其达到标准值。校准已完成，可以开始测量了。 注意: 1. 即使显示结果与标准片值相符，按↑、↓键也是必不可少的，例如按一次↑一次↓。这一点适用于所有校准方法。 2. 如欲较准确地进行二点校准，可重复b、c 过程，以提高校准的精度，减少偶然误差。 6.2.2.2 若两个标准片厚度至少相差三倍。待测覆盖层厚度应该在两个校准值之间。这种方法尤其适用于粗糙的喷沙表面和高精度测量。 a) 先校零值。 b) 在较薄的标准片上进行一次测量，用↑、↓键修正读数，使其达到标准值。 c) 紧接着在厚的一个样片上进行一次测量，用↑、↓键修正读数，使其达到标准值。校准已完成，可以开始测量了。 6.3基本校准的修正 在下述情况下，改变基本校准是有必要的:测头顶端被磨损、新换的测头、特殊的用途。 在测量中，如果误差明显地超出给定范围，则应对测头的特性重新进行校准称为基本校准。通过输入 6个校准值(1个零和5个厚度值)，可重新校准测头。 a) 在仪器关闭的状态下按住↑和↓键再按ON 键，直到一声长鸣，即进入基本校准状态； b) 先校零值。可连续重复进行多次，以获得一个多次校准的平均值，这样做可以提高校准的准确性； c) 使用标准片，按厚度增加的顺序，一个厚度上可做多次。每个厚度应至少是上一个厚度的1.6倍以上，理想的情况是2倍。例如: 50、100、200、400、800μm。最大值应该接近但低于测头的最大测量范围； 注意: 每个厚度应至少是上一个厚度的1.6倍以上，否则视为基本校准失败。 d) 在输入6个校准值以后，测量一下零点，仪器自动关闭，新的校准值已存入仪器。当再次开机时，仪器将按新的校准值工作。 7. 仪器的使用 7.1 基本测量步骤 7.1.1 准备好待测试件； 7.1.2将测头插头插入主机的测头插座中，旋紧锁母；