哈工大晶体管测试仪.docVIP

PAGE PAGE 2 目 录 TOC \o 1-3 \h \z 摘　要 3 关键词 3 1.设计要求 5 2.设计方案比较与论证 5 2.1.采样方案 5 2.2 系统构架比较 6 2.3 数据处理方式比较 6 2.4 运放选取比较 7 3.硬件电路设计 7 3.1 恒流源 7 3.2 静态特性测量电路 9 3.2.1 静态特性测量电路的设计 9 3.2.2 恒流源 9 3.2.3 压控压源 9 3.2.4 电压调整电路 10 3.2.5 极性切换、PNP管的测量 10 3.3 单片机接口电路 11 3.4二极管、三极管温度特性的测试 13 4．系统软件设计 14 4.1系统软件设计及功能概述 14 4.2握手协议 16 4.3 单片机端程序设计 16 4.3.1 数据采样子程序 16 4.3.2 数模转换控制子程序 17 4.3.3 l-Wire驱动程序 17 4.3.4中断服务及处理 17 4.3.5其它服务程序 17 4.4 PC端软件设计 17 4.4.1 三极管管型转换 18 4.4.2 基极曲线测定 19 4.4.3 正向传输特性曲线测定 19 4.4.4 三极管管型的自动判断 20 4.4.5 温度特性的测试 22 4.4.6 其他功能简介 22 5. 系统的结构及使用说明 23 5.1 电源箱 23 5.2 测试箱 23 5.3 温控盒 24 6.系统的调试与标定 24 6.1硬件调试 24 6.2 软件调试与标定 24 6.2.1 恒流源标定 24 6.2.2 读BE结电压值的AD标定 25 6.2.3 读CE结电压值的AD标定 26 6.2.4 压控压源的标定 26 结 论 27 致 谢 28 参考文献 29 附 录 30  晶体管参数测量技术报告 韦峻峰 杨亮 陈志宝 （哈尔滨工程大学信息与通信工程学院，150001） 摘　要 晶体管的参数是用来表征管子性能优劣和适应范围的指标，是选管的依据。为了使管子安全可靠的工作，必须注意它的参数。本文主要论述以AduC812为核心的晶体管参数测试系统，该系统通过VCCS输入，取平均等技术获得较理想的测试结果。目前能够完成三极管输入、输出特性曲线、放大倍数、开启电压等参数以及二极管一些参数的测定，并能测试比较温度对这些参数的影响。系统具有通用的RS232 接口和打印机接口，可以方便的将结果打印、显示。 关键词 AduC812 压控流源 晶体管参数 The Measurement of BJT Junfeng Wei, Liang Yang, Zhibao Chen (Information and Communication College, Harbin Abstract: The parameters of transistor reflect their quality and usage and they are they are the basis of choosing transistors. These parameters should be paid attention to because of safe and reliability. This article tells about the system which is based on ADuC812 that can measure these parameters. There are some special technologies like measuring the average values and VCCS input. The system can measure the Ib-Ube figure, Ic-Uce figure, amplification, and Uon of BJTs and diodes. The result can be sent to PC or other devices through RS-232 Serial port and the figure can be printed out easily. Key Words: ADUc812 VCCS BJT preference 1.设计要求 设计一个晶体管测试系统，可以测试出晶体管的主要参数，系统功能自定。 可以扩展打印、存