IC成品检验标准汇总.docVIP

文 件 首 页 DOCUMENT REVISION RECORDS(FILL IT FROM THE LAST TO THE FIRST) ☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆ DRAFTED BY CHECKED BY APPROVED BY DATE DATE DATE 1、目的： 本标准旨在使公司的成品的检验有依据、合理化，确保产品品质满足顾客要求。 2、适用范围: 适用于检验三晶电子生产销售的IC类产品。 3、定义 A面：IC的面 B面：IC的底部 4、职责权限: 4.1品质部负责本检验标准的拟定. 4.2研发部负责检验标准的审核 4.3品质部QA按标准进行成品的交收检验 5、管理要求： 5.1交收检验：适用于品质部对经过生产部全数检验的连续批生产的产品的交收检验及订货方对生产厂的产品交收检验。 5.1.1检验项目 5.1.1.1开箱检验 检验内容：包装质量、外观质量和功能 音 5.2抽样方案： 抽样方案是遵照MIL-STD-105E的单次抽样方式，检测水平II进行正常检验，严格或简化的抽样方案经本厂与客户商讨决定也可以使用，如果一批产品被本厂QA检验判定为不合格，该批产品必须由生产部返工，工程必须分析不良原因，制定所返工的工艺，并且把相关资料提前送交公司各相关部门，任何批次运出的产品仅有在通过本公司QA检验确认为“合格品”才能放行出货。抽样方案见表1 表1 交收检验抽样方案 类别 AQL允收水准 抽样方案 检验水平 CR MAJ MIN IC 0 0.10 0.25 MIL-STD-105E的单次抽样方式 一般检验水平II级 5.3缺陷分类与判据 5.3.1 缺陷分类 致命缺陷Critical defective (CR)：指对产品的使用及维护人员可能导致人身或财产危害的缺陷。 重缺陷Major defective (MAJ)：指导致产品失效或严重降低产品使用功能，为用户不可接受之缺陷。 轻缺陷Minor Defective(MIN)：指产品性能降低，但为一般用户可以接受之缺陷。 5.3.2合格品与不合格的判定 开箱检查不合格判据表，以每个单位统计其MA、MI类不合格为依据 检验项目 检验内容 具体不良内容 判定缺陷类型 检测手法 工具 Cr Ma Mi 外箱检 验 标 识 根据『送检单』对来料之标识进行确认,包括: PO号、数量、生产日期等，有无漏、错、无法辩认等现象。 ▲ 目测法 包 装 包装出现严重破损、受潮、雨淋、无防护能力、少数等现象。 ▲ 目测法 外观检验 规格型号 规格型号不符合。 ▲ 目测法 丝 印 目视丝印和方向印记标识文字印刷有无错误、难辨、歪斜、错字偏印、漏印、二次重印、印反等现象。 ▲ 目测法 Pin 脚 目视或用放大镜检查IC引脚喷锡是否良好，有无氧化斑点、灰暗无光泽，残留异物、少脚、断脚； ▲ 目测法 平整度 取样IC将放置于大理石平台上、侧面目视引脚有无翘起变形，左右引脚有无偏向； ▲ 目测法 尺寸 外形尺寸与BOM单要求是否相符 ▲ 本 体 有无开裂、脏污等现象。 ▲ 目测法 性能 波形 波形不能有失真(带点,变形),自激(毛刺),单波,无波,单波失真,杂波,延时，跳动，声道不平衡等。 按分离开关后观测示波器的波形应有一条基本平滑的直达线，若无其它异常现象。 ▲ 示波器、 信号发生器 测试工装 6 、检验条件: 6.1. 光照度:正常室内之照明,自然光或日光,光照度在700-1000Lux.左右. 6.2. 检验距离: 两眼距待测物30公分. 6.3. 光线照射方向及检验位置:光线照射方向及检验位置以方便检验为原则,待测面与光源方向呈30度到60度角,目检验方向与光源约呈垂直,与待测面约呈30度到60度角.: 6.4. 视力: 需1.0以上,不可有色盲. 6.5. 检验时间: 在检验1个面,以10秒内完成为原则 6.6温湿度条件：温度15℃-28℃，湿度45%-75% 7、检验结果处理 7.1批合格产品，收货方