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TUV-SPC统计过程控制培训

测量系统分析 MSA 测量系统误差的类型 测量系统分析 MSA 测量系统误差的类型 测量系统分析 MSA 测量系统误差的类型 测量系统分析 MSA 测量系统误差的类型 测量系统分析 MSA 测量系统误差的类型 测量系统分析 MSA 测量系统研究 量具重复性和再现性 Gage RR (repeatability and reproducibility) b.链现象 高于平均极差的链或上升链 ·输出值的分布宽度增加,其原因可能是无规律(例如设备控制不正常或固定松动)或是由于过程中的某个要素变化(例如,使用新的不是很一致的原材料),需要纠正; ·测量系统改变(例如,新的检验员或量具)。 底于平均极差的链,或下降链 ·输出值分布宽度减小,应研究以便推广应用和改进过程; ·测量系统改变,这样会掩盖真实性能的变化。 C.明显的非随机图形 ·各点与R的距离:一般地,大约2/3的描点应落在控制限的中间1/3的区域内,大约1/3的点落在其外地/3区域。 Lower Specification Limit Upper Specification Limit Reducing Variation is Clearly the Key to Improving Process Capability 3s 1/3 显著多于2/3以上的描点落在离R很近之处(对于25个子组,如果超过90%的点落在控制限1/3的区域) ·控制限或描点已计算错或描错; ·过程或取样方法被分层;每个子组系统化包括了从两个或多个具有完全不同的过程均值的过程流(例如,用几根测量轴每一轴测一个数); ·数据已经过编辑(极差与均值相差甚远的几个子组被更改或删除)。 分组情况 显著少于2/3以下的描点落在离R很近的区域(对于25个子组,如有40%或少于40%的点落在中间1/3的区域) ·控制限或描点计算错或描错; ·过程或抽样方法造成连续的分组中包括从两个或多个具有明显不同的变化性的过程流的测量值(例如,输入材料批次混淆)。 C.2 识别并标注特殊原因(极差图) l 对于极差数据内每一特殊原因进行标注,作为一个过程操作作分析,从而确定该原因并改进对过程的理解;纠正条件并却防止他再发生。 l 并不是所有的特殊原因都是有害的, 有些特殊原因可以通过减少极差的变差而 对过程改进起到积极的作用。 C.3 重新计算控制极限(极差图) a.超出控制限的点 一点超出任一控制限——出现特殊原因 ·控制限或描点错误; ·过程已改变,或是在当时的那一点(可能是一件独立的事件)或是一种趋势的一部分; ·测量系统发生变化(例如:不同量具或检验员) b.链现象: ·连续7点在平均值的一侧; ·7点连续上升或下降。 分析: ·过程均值已改变-也许还在变化; ·测量系统已改变(漂移、偏差、灵敏度等)。 c.明显的非随机图形 ·各点与过程均值的距离:一般情况下,大约2/3的描点应落在控制限1/3的中间区域内,大约1/3的点落在其他2/3的区域;1/20的点应落在控制限较近之处(位于外1/3的区域)。另外,存在大约/150的点落在控制限之外,但可认为是受控的稳定系统合理的一部分——约99.73%的点位于控制限之内。 Quite some Variation -Ending up as Scrap 一定程度的偏差 -导致废品 0.27% Upper Specification Limit Lower Specification Limit Scrap Scrap 99.73% 如果大大超过2/3的点落在过程均值的附近(对于25个子组的情况,如果有90%多的点在控制限1/3的中间区域) ·控制限或描点已计算错或描错或重新计算错; ·过程或取样方法分层;每个子组包括从两个或多个具有不同均值的过程流的测量值; ·数据已被编辑。 如果大大少于2/3的数据点落在过程平均值的附近(对于25个分组的情况,如果有40%或少于40%的数据落在中间的/3区域内) ·控制限或描点计算错或描错; ·过程或抽样方法草丛连续的子组中包括从两个或多个不同过程流的测量值。 C.2 识别并标注特殊原因(均值图) l对于均值数据内每一特殊原因进行标注,作为一个过程操作作分析,从而确定该原因并改进对过程的理解;纠正条件并却防止他再发生。 l并不是所有的特殊原因都是有害的,有 些特 殊原因可以通过减少均值的变差而对过程改进 起到积极的作用。 C.3 重新计算控制极限(均值图) 为了继续进行控制延长控制限 l过程处于统计稳定状态 l过程的各测量值服从正态分布 l工程及其他规范准确代表顾客的需求 l设计目标值位于规范的中心 l测量变差相对较小 过程能力解释 局部措施和对

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