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page 1 六条要求说明 收集数据不仅是用统计方法来解释它们，更重要的是对过程不 断加深理解。 2 研究变差和应用统计知识来改进性能的基本概念适用于任何领域，重点是在车间实施。 3 统计过程控制不仅适用于控制产品输出(例如零件)，也适用于对过程的控制。 4 统计过程控制理论需进一步与过程控制实际相联系 5 本书为统计方法的第一步，鼓励再看正规之统计学教育，以便了解其它技术； 6 测量系统对数据的准确性有影响，合适数据分析很重要 （可参考MSA手册），以确定统计控制或他们的变差占过程数据总变差中的比例，否则就可能作出不适当的决定。 第一节 预防与检测 基本原则 检测——容忍浪费 预防——避免浪费 有效方法：应用统计技术进行预防 4、对输出采取措施（Action On The Output） 第Ⅲ章 计数型数据控制图 第一节 不合格品率控制图（p图） 第二节 不合格品数控制图（np图） 第三节 不合格数控制图（c图） 第四节 单位产品不合格数控制图（u图） 第一节 不合格品率控制图（p图） A. 收集数据 A.1选择子组容量、频率和数量 a.子组容量 1.用于计数型数据的控制图一般要求较大的子组容 量（如50到200）以便检验出性能的一般变化； 2.对于显示可分析的图形的控制图，子组容量应足 够大，大到每个组内包括几个不合格品。（如np ＞5） B．计算控制限 B．1 计算过程平均不合格品率（ ） 对于K个子组的研究时期，计算不合格品率的均值如下： 式中： 为每个子组内的不合格项目数及检查的项目数。 B．2 计算上、下控制限（UCL，LCL） 式中：n为恒定的样本容量。 注：当 很小和/或n很小时，LCL的计算值有时会为负值，在这种情况下则没有下控制限，因为即使在极精确的时期内p=0，也在随机变差极限之内。 B．3 画线并标注 · 过程均值（ ）——水平实线。 · 控制限（UCL，LCL）——水平虚线。 在初始研究阶段，这些被认为是试验控制限。 注：上述给出的控制限计算公式适用于子组容量相同的情况下（因为它们可能是处于受控的取样情况），理论上，只要样本容量改变（即使是一个子组），控制限随之变化，在对每个具有不同的样本容量的子组应分别计算各组的控制限，但实际应用时，当各子组容量与其平均值相差不超过正负25%时（典型的处于相对稳定的条件下的实际生产量），可用平均样本容量（ ）来计算控制限，在这种情况下， C．过程控制用控制图解释 目的：找出过程不同以同一水平运行的证据——即过程 失控——并采取相应的措施。 C．1 分析数据点，找出不稳定的证据 超出控制限的点 a．超出任一控制限就证明在那点不稳定，由于过程 稳定且只存在普通原因变差时，很少会出现超出 控制限的点，所以我们假设超出的值是由于特殊 原因造成的，特别原因可能有益也可能有害，两 种情况下都应立即调查。 超出上控制限的点： · 控制限或描点错误： · 过程性能恶化，在当时那点或作为一种趋势的一部分； · 评价系统已改变（例如：检验员、量规）。 低于控制限下的点： · 控制限或描点错误： · 过程性能已改进（为了改进，应当研究这种情况且长期保 持）； · 测量系统已改变。 注：当每个子组的不合格项目的平均值（ ）较大时 （≥9），子组的p的分布近似于正态分布并且可以使用 与X图所用分析相似的分布方法。若 较小（≤5 ）， 则不能直接应用下列规则。 b. 链——在一个受控的， 中等较大的过程中，落在均 值两侧的点的数量将几乎相等。下列任一情况都表 明过程变化或开始有变化的趋势： · 连续7点位于均值的一侧； · 连续7点上升（后者与前者相等或比前者大）或边续地