硬件部分测试系统测试说明书.PDFVIP

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硬件部分测试系统测试说明书

Juno DTS-1000 硬件系统说明书 JUNO 分立器件测试系统 DTS-1000 硬件部分测试系统 测试说明书 1 Juno DTS-1000 硬件系统说明书 概要 DTS-1000 系统测试机通过与分选机、探针台连接,可实现半导体分立器件的高速测试、分 选,该系统可测器件包括晶体管、场效应管(MOS-FET)、二极管(Diode)、稳压管二极管(Zener), 通过增加选件(Option)可测试可控硅(SCR)、稳压管(3Terinal Regulater、,Shunt Regulator)、放电管(TVS)等等。系统具有良好的扩展性,电压可扩展最大到 3000 伏(V), 电流最大到 200 安(A)。并且系统配置灵活,可为不同客户进行最经济的系统配置。为客 户特殊器件专门设计软、硬件。可将测试数据转换成 EXCEL 格式,方便客户进行数据交换。 测试系统由测试主机 DTS-1000、测试接口盒 HDXXXX 及控制用电脑 PC 构成。 测试主机 主机中包括器件的偏置部分、测量部分,CPU 部分及外部接口(I/F)部分。 标准测试主机、可测如下器件:二极管、纳二极管、晶体管、MOS—FET、接合型 FET。 增加选件,可测器件为:可控硅、三端双向可控硅、三端双向可控硅开关件、三端稳压器, D—GATE、FET、霍尔器件等。 测试接口盒 接口盒中包括含所测器件各端子间的继电器网路及小电路测量回路。根据不同需要有不同的 测试接口盒供选择。接口盒体积小,便于安装。在接口盒上增加选件,可作为手动测试站。 控制用电脑 PC用英文Windows98系统,测试控制软件为JUNO公司自行研发的专用系统,操作极为方便。 外型尺寸: 500 AB I/F D iscrete Sem iconductor Tes t System

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