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不钉扎的n GaAs 100表面的LB膜钝化
第5卷 第3期 薄 膜 科 学 与 技 术 VO1.5 NO.3
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不钉扎的n—GaAs(100)表面的LB膜钝化
林海安 吴冲 石一心
— — — — — — — — ~ , — — — — — — — 一
(东南大擎电子工程系)
]991年 lO月 20日收割
●
摘 要
本 文报道 了光化学北理后不钉扎 的GBA嗥 面被LB鹱钝化的姑果.采用LB秉酰亚胺铯孽
艟糊备了MIS蛄构.离撅C— 潮试表明.养面倍阱密度在 10“onl- .r 量擅,平带电压受滞
后垃应静响漂移09V.LB技术是改善化台曲半导体器件性能的有蛀造径.
关挺词:里坚 面,丝 .LB泉酰亚胺虞.电挚一电压特性
姨
一
、 引 言
GaAs器件的稳定性在很大程度上决定于它的表面、界面的状况.GaAs很高的界面
陷阱密度 ,不但阻碍了 GaAs-MISFET的实用化,而且严重影响着 GaAs-MESFET和
以GaAs为基础的 HBT的性能.
最近已有报道表明 “ ,通过光化学清洗的GaAs片,其界面陷阱密度将会大大减
小.费米能级钉扎解除.但是 .若将样品暴露到空气中20--30分钟.费米能级钉扎又将
恢复.显然,对光化学清洗后不钉扎的表面进行钝化是很有意义的.已有种种饨化 GaAs
表面的方法见诸报道 “一].
LB技术是一种沉积单层或多层有机薄膜的方法.它能精确控制膜厚 (以单分子层生
长),且薄膜质量均匀致密.这种技术在微电子学中的应用潜力 已受到广泛的注意.聚酰
亚胺作为一种钝化材料早已运用于半导体工艺中.本文将报道采用LB技术沉积浆酰亚胺
薄膜,对 GaAs表面进行钝化的研究结果.
二、实 验
本实验采用 n—GaAs(ioo)材料作衬底,其掺杂浓度为 2.69xIO。$cm一.衬底清洗
步骤为:
1,丙酮棉球擦洗 GaAs片 .然后将其置于丙酮溶液中,用水浴法加热一定时间,最
后依次用无水乙醇和去离子水超声清洗.
2.用体积 比为 15:5:80的HC!/H202/H2O系溶液浸泡GaAs片子2分钟.
3.在 自然光照射下,用大量去离子水冲洗片子 5分钟.清洗完毕后.立即进行 LB
●
第 3期 林海安等:不钉扎的n-GaAs(100)表面的LB膜钝化 ‘61 ·
膜沉积.
由于聚酰胺酸本身没有疏水基团.所以不能单独形成单分子膜.必须加人十六胺.聚
靛胺酸 中的羧基~COOH)上 的 H 被十六胺 的氨基 (-NH2)获得,从而产生-COO一,
_NH 耦合.十六胺的疏水长链能够辅助聚酰胺酸在亚相液面上有序排列,形成单分子
膜.聚酰胺酸与十六胺的摩尔比为 1:1.5.溶剂为苯与二 甲基乙酰胺混合溶液.沉积 LB
膜时表面压为2x10_.N /cIT1,拉膜速度为 1.5ram /rain.操作在室温下进行.亚辐为去
离子水.
完成 LB膜沉积后即进行亚胺化处理.使聚酰胺酸转化为聚酰亚胺,同时挥发掉其中
的十六胺.完成亚胺化后,通过掩模板蒸铝构成顶电极 (面积为 1.3ram2).
高频 (IMHz)C一 测试在 CTG-!型高频 C- 特性测试仪上进行.GaAs片背面与
澍进极袄问用镓球改善接触特性.
三、结果与讨论
图 1是样
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