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CCD测量细丝直径

西安工业大学光电工程学院 课程设计 题目:细丝直径测试仪 专 业: 测控技术与仪器 班 级:110108 学 号:110108120 学 生:郑世超 任课教师:吴玲玲 2014.12 《光电仪器设计课程设计任务书》 一、题目:细丝直径测试仪 该仪器是用于对细铜丝直径的尺寸参数进行测量的一种测试仪器。 二、技术要求 1. 方法:非接触式测量 2. 铜丝直径:φ1±0.01mm 3. 测量精度:±1%; 4. 测量状态:在线测量; 5. 超出铜丝直径公差要有报警功能。 三、设计任务 对该仪器进行总体设计,具体内容如下: 1. 设计任务分析; 2. 方案论证; 3. 系统设计(含局部单元设计); 4. 精度估算。 四、设计要求 1.设计说明书一份(不少于5000字); 2.时间:2014年12月4日2014年12月18日 2014年12月18日下午答辩交论文; 3.参考文献:自定 题目:细丝直径测试仪 基于远心光路成像系统的线阵CCD 直径测量仪 摘 要 光电检测技术将光学技术与电子技术相结合实现对各种量的测量它具有如下特点高精度光电测量的精度是各种测量技术中精度最高的一种.非接触测量光照到被测物体上可以认为是没有测量力的因此也无摩擦可以实现动态测量是各种测量方法中效率最高的一种。随着新型光电器件的不断涌现、单片机数据处理能力的提高和生产全面质量管理的要求,非接触式智能化仪器将逐步取代传统上的机械测量仪器。我们设计了一套基于线阵 CCD 的非接触直径测量仪器,该装置可以对φ0.5mm~ φ30mm的工件进行测量,测量精度为±5μm。这篇文章论述了 CCD测量装置的基本原理,而且分析了光学系统各部分的形式,采用柯拉照明和远心光路成像, 以保证成像质量和测量精度。同时还给出了 CCD 测量直径系统的控制程序流程图及部分程序。再对实验得到测量结果,进行几个重要参数进行了分析,就影响系统测量精度的几种主要误差进行了讨论,有消除误差的方法,从而达到更高的测量精度。 关键字:线阵 CCD 直径测量 远心光路 非接触测量 目录 第一章 引言 5 §1.1研究背景和意义 6 §1.2国内外研究现状 6 §1.2.1国内发展现状 6 §1.2.2 国外发展现状 7 第二章 测量原理和方案论证 7 §2.1测量原理 7 §2.2方案论证 9 第三章 信号处理电路设计 10 §3.1信号处理设计 10 §3.2 滤波器的选用 11 §3.3 信号处理的方法 12 §3.4报警系统设计 15 第四章 误差及精度分析 16 4.1光学系统对测量精度影响 16 §4.1.1影响测量精度的因素及对策 16 §4.2信号处理电路对测量精度的影响 16 §4.3被测工件对测量精度的影响 17 §4.4误差分析 17 第五章 总结 17 参考文献 19 第一章 引言 1.1研究背景和意义 光电自动检测技术随着现代科学技术以及复杂自动控制系统和信息处理与技术的提高光电检测技术作为一门研究光与物质相互作用发展起来的新兴学科已成为现代信息科学的一个极为重要的组成部分。光电自动检测作为光电信息技术的主要技术之一它是以激光、红外、光纤等现代光电子器件作为基础通过对被检测物体的光辐射经光电检测器接受光辐射并转换为电信号由输入电路、放大滤波等检测电路提取有用信息再经模数转换等接口输入计算机运算处理最后显示输出所需要的检测物理量等参数。光电检测技术将光学技术与电子技术相结合实现对各种量的测量它具有如下特点高精度光电测量的精度是各种测量技术中精度最高的一种.非接触测量光照到被测物体上可以认为是没有测量力的因此也无摩擦可以实现动态测量是各种测量方法中效率最高的一种。 我们研究的基于线阵 CCD 便携式非接触直径测量仪器正是适应当前社会自动化生产的急需而设计的,该测径仪是一种光、机、电一体化的产品。对保证产 品质量,降低原材料消耗,降低生产成本,提高劳动生产率有着重大的经济效益 和社会意义。传统的测量方法多数为接触法,其它的有电阻法、称重法。也有采用光学方法的。但是大多检测方法检测速度低,生产效率低,劳动强度大,跟不上目前自动化生产的 需要。在全面质量管理过程中,更需要先进的、智能的检测手段。CCD能够以电荷为信号, 把光学影像转化为数字信号。现代机械制造行业中,测量细丝直径仍存在一些难以解决的问题。传统的测微仪等接触测量法会使被测细丝变形而影响测量精度,工业上常用电阻法和称重法,因测量精度低,只能测量某段细丝的平均直径,很难满足现代工业的技术要求。近年来随着大规 模集成电路和激光技术的推广, CCD也得到了很大的发展,由于其具有自扫描、高灵敏、低噪声、长寿命和高可靠性等优点,广泛应用于测量仪器中。我们通过CCD技术应用进行测径。CCD 在现代自动化生产

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