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半导体行业中DRAM的制造与测试
半导体行业中DRAM的制造与测试
DRAM器件的基本介绍
DRAM器件的晶圆制造流程
DRAM器件的封装流程
DRAM器件的电性测试与良品率
DRAM器件晶圆制造的新工艺
DRAM的基本介绍
DRAM的基本介绍
内存的种类
谈起DRAM,我们就要先从memory谈起。Memory – 存储器或称内存,是我们在计算机或电子行业里面常用的一种存储载体。以其构成方式和工作原理,存储器可分为以下几种,如图一所示。
图一:存储器种类
RAM (Random Access Memory): 随机存储器,数据可以被迅速的读写并且内存单元可以被随机得访问道。
ROM (Read Only Memory): 只读存储器,一般用于存储不会频繁改动的数据,其中存储的信息,是在工厂里被永久性写入的。
DRAM (Dynamic Random Access Memory): 动态随机存储器,数据被以充电的形式写入电容,但由于漏电的原因,存储的电荷会最终失去,所以存储器中的数据需要周期性地被更新,这也正是“动态”一词的来源。一般来讲,一个最基本的存储单元由一个MOS管和电容所组成,而典型的DRAM需要5~50毫秒的数据更新周期。
SRAM (Static Random Access Memory): 静态随机存储器,数据被存储在两个耦合的逻辑反向器中。与DRAM相比,SRAM中的数据不需要被周期性的更新,而这也导致其具有低功耗的特点;典型的SRAM存储单元由6个MOS管所组成,但这也导致在同等的器件面积上,它所存储的数据量比DRAM少。
PROM (Programmable Read Only Memory): 可编程只读存储器
Mask ROM (Mask Read Only Memory): 一种只读存储器,其中存储的信息是在晶圆的制造过程中,以掩模版的形式被复制在器件上。
EPROM (Electrical Programmable Read Only Memory): 电可编程只读存储器。
EEPROM (Electrical Erasable and Programmable Read Only Memory): 电可编程/擦除只读存储器。
FLASH (FLASH Electrical Erasable and Programmable Read Only Memory): 闪存
DRAM市场的现状与发展
由于DRAM的特性,使其成为在计算机与通讯系统中使用最为广泛的半导体存储器形式。而也因为其制造工艺的先进性,使其成为半导体制造工业的标杆,表一所给出的SIA(半导体产业协会)对半导体产品的产品参数所预测的“路线图”,就是以DRAM器件为代表所给出的。
产品年代 2001 2006 2012 线宽(nm) 150 100 50 存储器容量 1Gb 16Gb 64Gb 逻辑比特/cm2 380M 2.2B 17B 芯片尺寸(mm2) 445 790 1580 最大连线水平 7 7-8 9 掩模层 23 24/26 28 缺陷密度(D/m) 875 490 250 芯片接口-I/O’s 1195 1970 3585 晶圆直径(mm) 300 300 450
表一:半导体产业路线图 – SIA
在半导体产业中,DRAM器件的销售利润额为370亿美元(2000年),占整个半导体市场份额的16%。图二给出了DRAM市场利润额的变化图
图二:DRAM市场利润额趋势图
由于DRAM制造工艺的不断发展,也使DRAM成为了一种低成本的内存器件,目前,其每个逻辑存储比特的制造成本已小于10-7美元,并且其制造成本还在以每年约26%的速率在继续下降。图三给出了DRAM器件制造成本的下降趋势。
图三:DRAM器件制造成本的下降趋势图
目前的DRAM生产技术已经发展到160nm工艺,每个存储单元的面积可以控制在0.3um2以内。当前主要的DRAM生产商是Samsung, Micro, LG-Hyundai, Hitachi, 这几家生产商占到了DRAM市场份额的80%以上。
DRAM器件的工作原理
DRAM器件的基本结构
谈起DRAM器件的基本结构,我们要先从其最基本的存储单元(Memory Cell)说起,图四为DRAM存储单元逻辑示意图;图五为其存储单元晶圆剖面示意图。从图四我们可以看出,每个DRAM存储单元是由一个MOS管,一个电容,一根字节线(Word Line或称行)和一根比特线(Bit Line或称列)所组成的,而这就是典型的DRAM 1T(Transistor)1C(Capacitor)存储单元结构(IBM公司于1968年发明)。就是这样一个一个的存储单元组成了DRAM器件存储阵列,而存储阵列一般会占到整个DRAM器件面积的50~6
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