MXF-2400操作软件使用操作手册（中文版）.docVIP

岛津多道X荧光光谱仪MXF系列 使用操作手册 为了安全和正确的使用仪器，必须认真仔细阅读本手册。 为了你在任何时候都能参考，请保存好本操作手册。 岛津【香港】有限公司 前言 本手册的说明 本手册从基础、软件的操作、工具三个方面阐述了荧光分析仪的操作。 基础：阐述了首次使用荧光仪的用户如何开启和关闭样品分析程序，同时描述了简单样品的样品分析方法。 软件的操作：描述了建立分析条件以及数据处理的主要操作方法 工具：描述了用户应该知道的监视和控制仪器的日常操作方法，关于仪器的维护和故障诊断请阅读“硬件手册”。 在本手册的“附录”中描述了软件的组成及安装方法，如果需要请查阅。 本手册描述了仪器可能用到的操作。但是对于没有扫描装置的仪器来说，定性分析是用不到的。SCANNER显示在本手册中，但只对带有扫描装置的仪器有用。 目录 基础 1开启和关闭仪器13 1.1开启仪器13 　　1.1.1开通仪器电源13 　　1.1.2启动ＰＣMXＦ软件13 　　1.1.3开启X射线14 1.1.4打开加热器以及检测器高压15 1.2关闭仪器15 　1.2.1关闭加热器以及检测器高压15 1.2.2关闭Ｘ射线15 1.2.3关闭ＰＣＸＲＦ软件16 1.2.4关闭仪器电源16 2软件的简要介绍17 2.1初始画面17 2.2各部分功能18 2.3在线帮助19 2.4分析类型19 2.5分析组20 3简单分析21 3.1一般操作21 3.1.1打开“analysis（分析）”窗口21 3.1.2选择分析组22 3.1.3输入样品名称22 3.1.4开始分析24 3.1.5确认分析结果 24 3.2简单分析25 3.2.1打开“analysis（分析）”窗口25 3.2.2选择一个分析组25 3.2.3选择样品位置25 3.2.4开始分析26 3.2.5显示数据测量过程26 3.2.6确认分析结果27 应用软件 4..　定量分析（标准曲线法）28 4.1标准曲线法定量分析28 4.1.1建立分析条件28 1）建立分析组28 2）登记分析元素30 3）设置元素资料30 4）设置测量条件31 5）输入标准样品名称32 6）输入标准样品标准值32 7）存储分析组33 4.1.2分析标准样品33 1）选择分析组33 2）输入样品名称35 3）开始分析36 4.1.3建立标准曲线36 4.1.4分析未知样品37 1）选择分析组37 2）输入样品名称38 3）开始分析39 4）查看分析结果39 4.1.5基体元素校正39 4.1.5.1基体元素校正39 4.1.5.2回归计算法基体元素校正41 1）显示出标准曲线窗口41 2）设置基体元素校正方法和曲线次数41 3）选择计算方法42 4）设置校正元素42 5）计算43 6）输入固定的校正系数值43 7）删除一个校正元素43 　　　4.1.5.3　“SFP”法基体元素校正44 显示SFP法计算窗口44 2）设置样品组成形式44 3）执行ＳＦＰ计算46 4）登记计算系数46 5）利用ＳＦＰ系数进行基体元素校正47 　　　 4.2定量分析校正方法48 4.2.1背景（BG）校正48 4.2.1.1背景校正48 4.2.1.2设置背景校正-使用扫描仪测量BG48 　　　4.2.1.3设置背景校正-使用固定分光计测量BG49 4.2.2漂移校正51 　　　4.2.2.1漂移校正51 　　　4.2.2.2登记标准样品和基准强度51 1）设置标准样品51 2）设置漂移校正条件51 3）存储分析组53 4）测量标准样品的基准强度53 　　　4.2.2.3更新漂移校正系数53 　　　4.2.2.4同时更新多个组的漂移校正系数54 　　4.2.3谱线重叠校正55 　　　4.2.3.1谱线重叠校正55 　　　4.2.3.2设置谱线重叠校正55 　　4.2.4空白校正55 　　　4.2.4.1空白校正56 　　　4.2.4.2登记空白样品56 　　4.2.5内标校正56 　　　4.2.5.1内标校正57 　　　4.2.5.2设置内标校正57 1）设置内标元素57 2）设置内标校正58 　　4.2.6控制曲线校正59 　　　4.2.6.1控制曲线校正59 　　　4.2.6.2设置控制曲线校正样品60 　　　4.2.6.3更新控制曲线校正系数60 4.3定量分析多种功能介绍62 　　4.3.1附加计算62 　　　4.3.1..1附加计算62 　　　4.3.1.2设置附加计算通道62 1）设置附加计算通道数量62 2）设置附加计算公式62 　　4.3.2漂移检查63 　　　4.3.2.1漂移检查63 　　　 4.3.2.2设置漂移检查样品63 　　　4.3.2.3分析漂移检查样品的基准值并登记64