种用于动态电流测试的故障模拟算法-计算机工程与科学.pdfVIP

维普资讯 CN43．1258／Ⅱ’ 计算机工程与科学 2002年第 24卷第 2期 IssN 1O叽．130X COMPUTERENGINEEPdNG ＆ SCIENCE VoI．24，No．2，2002 文章编号：1007．130X(2002)024)054—05 一 种用于动态电流测试的故障模拟算法 A FaultSimulationAlgorithm forDynamic CurrentTesting 朱启建，邝继顺，张大方 ZHUQi-jian，KUANGJi·shun，ZHANGDa·fang (湖南大学计算机与通信学院，湖南 长沙 410082) (SchoolofComputersandCommunications，HunanUniversity，Changsha410082，China 摘 要：本文针对动态电流测试 ，提 出了动态电流通路和动态电流通路故障的概念以及基本逻辑 门的动态电流通路故障模型 在波形模拟嚣的基础上给 出了一个用于动态电流测试的故障模拟算法 Abstract：Sorner1ew conceptsofd3mamiccurrentpathanddynamic．current-pathfauh．andthed’伽 l2=c．cM，． rera-path-faultmodelofprimarygatesfordymamie(trnasient)currenttestingarepresentedinthepaperAfaultsim- ulationalgorithm basedonwavesimulationis ven 关键词：动态电流测试；波形模拟；故障模拟；动态电流通路故障 Key-fiords：IDDT testing：wavefo玎nsimulation：faultsimufation；d)~amnic—CUlT~rlt．paht fauh 中圊分类号：TP331 文献标识码：A 方法检测出来。 1 引言 动态 电流测试通过观察电路在其内部状态发 生变化时流经 电路的动态 电流，来发现某些不被 cMOs技术在 VLSI中已成为一种 占主导性 其它测试方法所能发现的故障。当电路状态发生 的、最为重要的技术之一。传统的基于固定型故 变化时，由于 CMOS电路 中 PMOS晶体管和 障模型的测试技术，已经不能满足高性能数字集 NMOS晶体管同时导通以及电路 中电容的充放 成电路特别是CMOS电路发展的需要…。事实 电，使得在电源与地之间形成了一个短暂的导电 上，CMOS电路中的故障和失效机制是各种各样 通路，流经这一短暂通路的电流即人们所称的动 的，人们很难一一列举并用一两种模型来加以充 态电流。观察动态电流给人们提供了一个透视电 分描述 。正因为如此，静态电流 (，D0)测试 自 路内部开关性能的窗口，R．Z．Makki和s．T．su 2()世纪8O年代提出以来L2,3，受到了越来越多 等在文献 7，8 中讨论了动态电流测试的可行 的学者及工业界的重视，它的优点越来越显现， 性和实用性。动态电流测试作为电压测试和静态 目前已成为一种广为接受的CMOS集成电路测试 电流测试的一种补充手段逐渐受 到人们的重 方法。但是，CMOS电路中的某些故障，例如部 视 J。但总的来说，动态电流测试 目前还仅是一 分开路故障l4 ，就不能用静态电流方法或 电压 种理论上的测试方法而 已，要将这种方法有效地 喜蔷界檗蓍皇鼍嚣蓄牟 焉 学 呈。撬方向为数字电路测试；邝继顺．副教授，研究方向为数字电路