基于有限元方法的有机场效应晶体管特性模拟与实验验证 - 发光学报.pdfVIP

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基于有限元方法的有机场效应晶体管特性模拟与实验验证 - 发光学报

第37卷  第10期 发  光  学  报 Vol37 No10 2016年10月 CHINESEJOURNAL OF LUMINESCENCE Oct. ꎬ2016 文章编号:1000 ̄7032(2016)10 ̄1245 ̄08 基于有限元方法的有机场效应晶体管特性模拟与实验验证 ∗ ∗ 王  倩ꎬ吴仁磊ꎬ吴  峰 ꎬ程晓曼 (天津理工大学 理学院ꎬ天津  300384) 摘要:采用有限元方法ꎬ借助多物理场软件COMSOL模拟了底栅顶接触结构有机场效应晶体管电位和载流 子浓度随源漏电压 V 的变化ꎮ 模拟结果表明ꎬ当固定栅压 V = -10 V时ꎬ改变V 从0~ -10 Vꎬ对于电位分 ds g ds 布ꎬ从栅极到源漏电极竖直方向有渐进的变化ꎬ而从源极到漏极的水平方向呈现由大到小明显的梯度变化ꎮ 对于载流子浓度ꎬ观察到沟道处从源极向漏极逐渐减少ꎬ在靠近漏极的区域减少得尤为明显ꎬ而当源漏电压 等于栅极电压时ꎬ产生夹断现象ꎮ 进一步将模拟结果与实际制备的器件性能进行了对比ꎬ模拟结果与实验数 据所显示的分布趋势大体相同ꎬ印证了模拟的合理性ꎮ 由此表明ꎬ采用模拟方法分析有机场效应晶体管的器 件特性ꎬ对于实际制备器件具有重要的指导意义ꎮ 关  键  词:有机场效应晶体管ꎻ有限元方法ꎻ电位ꎻ载流子 中图分类号:TN386ꎻO47      文献标识码:A      DOI:10.3788/ fgx1245 Simulation and Experimental Verification of Organic Field Effect Transistor Characteristic Based on Finite Element Method ∗ ∗ WANG QianꎬWU Ren ̄leiꎬWU Feng ꎬCHENG Xiao ̄man (School of ScienceꎬTianjin University of TechnologyꎬTianjin300384ꎬChina) ∗Corresponding AuthorsꎬE ̄mail:wufeng@tjut.edu.cnꎻchengxm@tjut.edu.cn Abstract:Thedistributionofpotentialandcarrierdensityundervarioussourcedrainvoltageoforgan ̄ icfield effect transistor with bottom ̄gate top ̄contact geometry was simulated using the multi ̄physical field software COMSOLonthebasisofthefiniteelementmethod. Thepotentialhasgraduallychanged fromsourceelectrodetogateelectrodeintheverticaldirectionwiththeincreaseof sourcedrainvoltage on the gate voltage V = -10 Vand sourcedrainvoltage V intherangefrom0 to -10 Vꎬwhilethe

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