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基于有限元方法的有机场效应晶体管特性模拟与实验验证 - 发光学报
第37卷 第10期 发 光 学 报 Vol37 No10
2016年10月 CHINESEJOURNAL OF LUMINESCENCE Oct. ꎬ2016
文章编号:1000 ̄7032(2016)10 ̄1245 ̄08
基于有限元方法的有机场效应晶体管特性模拟与实验验证
∗ ∗
王 倩ꎬ吴仁磊ꎬ吴 峰 ꎬ程晓曼
(天津理工大学 理学院ꎬ天津 300384)
摘要:采用有限元方法ꎬ借助多物理场软件COMSOL模拟了底栅顶接触结构有机场效应晶体管电位和载流
子浓度随源漏电压 V 的变化ꎮ 模拟结果表明ꎬ当固定栅压 V = -10 V时ꎬ改变V 从0~ -10 Vꎬ对于电位分
ds g ds
布ꎬ从栅极到源漏电极竖直方向有渐进的变化ꎬ而从源极到漏极的水平方向呈现由大到小明显的梯度变化ꎮ
对于载流子浓度ꎬ观察到沟道处从源极向漏极逐渐减少ꎬ在靠近漏极的区域减少得尤为明显ꎬ而当源漏电压
等于栅极电压时ꎬ产生夹断现象ꎮ 进一步将模拟结果与实际制备的器件性能进行了对比ꎬ模拟结果与实验数
据所显示的分布趋势大体相同ꎬ印证了模拟的合理性ꎮ 由此表明ꎬ采用模拟方法分析有机场效应晶体管的器
件特性ꎬ对于实际制备器件具有重要的指导意义ꎮ
关 键 词:有机场效应晶体管ꎻ有限元方法ꎻ电位ꎻ载流子
中图分类号:TN386ꎻO47 文献标识码:A DOI:10.3788/ fgx1245
Simulation and Experimental Verification of Organic Field
Effect Transistor Characteristic Based on Finite Element Method
∗ ∗
WANG QianꎬWU Ren ̄leiꎬWU Feng ꎬCHENG Xiao ̄man
(School of ScienceꎬTianjin University of TechnologyꎬTianjin300384ꎬChina)
∗Corresponding AuthorsꎬE ̄mail:wufeng@tjut.edu.cnꎻchengxm@tjut.edu.cn
Abstract:Thedistributionofpotentialandcarrierdensityundervarioussourcedrainvoltageoforgan ̄
icfield effect transistor with bottom ̄gate top ̄contact geometry was simulated using the multi ̄physical
field software COMSOLonthebasisofthefiniteelementmethod. Thepotentialhasgraduallychanged
fromsourceelectrodetogateelectrodeintheverticaldirectionwiththeincreaseof sourcedrainvoltage
on the gate voltage V = -10 Vand sourcedrainvoltage V intherangefrom0 to -10 Vꎬwhilethe
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