12MeV LIA X射线斑点测试及其调制传递函数.pdfVIP

　第 11 卷　第 2 期 强 激 光 与 粒 子 束 . 11, . 2　 V o l N o 　1999 年 4 月 H IGH POW ER LA SER AND PA R T ICL E BEAM S A p r. , 1999　 文章编号: 　1001- 4322( 1999) 02- 0177- 03 12 射线斑点测试及其调制传递函数 M eV L IA X 石金水, 李　劲, 何　毅, 梁学法 ( 中国工程物理研究院流体物理研究所, 成都 523 信箱 56 分箱, 610003) 　　摘　要: 　介绍了测试 12 光斑点的测试系统, 利用刀口法和大孔成像法测出 M eV L IA X 所成像的黑密度分布, 获得X 光斑点大小结果; 根据该光源的近乎轴对称特点和大孔所成像 的密度分布, 经数值处理拟合出斑点强度的空间分布; 利用该系统, 获得了判断 12 M eV L IA X 光成像空间分辨能力的调制传递函数。 　　关键词: 　X 射线; 斑点; 空间分辨能力; 调制传递函数 　　中图分类号: 　 249　　　　文献标识码: 　 TN A 　　12 是一台能量为 12 、束流约 2. 5 、脉冲宽度约 75 的强流直线感应电 M eV L IA M eV kA n s 子加速器, 可应用于闪光 X 射线照相、工业探伤、辐照加工等; 其 X 射线斑点大小是表征 12 性能好坏的一个关键参量, 直接影响成像的分辨能力。12 产生的 射 M eV L IA M eV L IA X 线具有很强的穿透能力并造成强的辐射环境, 这样给X 光源斑点大小的测试及其数据处理带 来一定的困难, 传统的小孔成像法已不再适用。本文所介绍的刀口法及大孔法测X 光斑点大 小避免了强X 射线所固有特性对测试结果产生的较强影响; 对所测结果进行数值化处理, 将 获得判断 12 产生的 射线成像分辨能力的调制传递函数。 M eV L IA X 1　实验测试方法 　　实验测试系统如图 1 所示。在同一次放电中, 在X 光行程上同时布置刀口装置和大孔装 ( ) ( ) 置。刀口的形成是采用足够厚的两块重金属材料板 钨或铅 夹住很薄的 约 1 一层密度较 mm 低的材料, 强的X 射线经中间的被照物体后, 将在其后接收底片上形成层次分明的黑密度分 布。大孔的形成是在一足够厚的铅块上打出一 10 的孔, 孔的大小大于 光斑点大小, 这