光纤端面清洗操作规范及判定标准.docVIP

作业指导类文件 光纤端面清洗操作规范及判定标准 制订部门 工程部 版本号 A 修订状态 3 发放编号 受控印章 制 订 审 核 批 准 制订日期 审核日期 批准日期 修改记录 版本号 修改状态 修改内容 修订人/日期 A A A A 0 1 2 3 首次发布 增加插芯装反示例图片、增加多模端面判定标准、增加端面不良示例、模式改版 更改文件名称为‘光前端面清洗操作规范及判定标准’；更改单/多模判定标准；增加一例可接受亮斑的说明；台式显示器采用‘对比实物图’；增加ST和FC清洗针套装示意图。 更新端面BCDE区标准 周森玲/2011-12-21 周森玲/2011-12-29 艾玉伟/2012-4-18 一、名称： 二、内容： 三、适用范围： 四、所需仪器、设备及工具： 清洗操作步骤 No. 操作步骤 图片 说明 1 打开清洗机主机和显示器 （B）） Zone 1a（A区）：中间直径25微米以内部分，对于单模光纤包括部分的包层（cladding），对于多模光纤就只包含纤芯的中间部分； Zone 1b（B区）：从直径25微米以外至直径120微米部分，对于单模光纤包括大部分的包层部分，对于多模光纤包含纤芯的外围部分和包层的部分； Epoxy Zone Ring（C区）：中间直径120微米以外，130微米以内部分，为环氧树脂区域，包层边缘10微米宽度部分； Zone 2（D区）：中间直径130微米以外，250微米以内部分，扩展到陶瓷插芯部分区域。 Zone 3（E区）：中间直径250微米以外的部分。 6.2 不良现象定义： 可擦除脏污 能通过清洁工序擦除的任意脏污，如灰尘。 液体残余 清洗液的残留如酒精、水渍、胶，或者插拔过程中残留的油或胶。 划痕 通常由生产工艺或抛光材料中的小杂质引起的线条，通常表现为白色。 不可擦除脏污 不能通过清洁工序擦除的任意脏污,且不表现为点状。 斑点 200倍放大下目测显现为比其他区域颜色偏淡的或偏深的。 6.3 PC/UPC/APC单模连接头端面外观检查标准： 不良现象 A 区域 Area Near Core (SMF only) 核心区 B 区域 Cladding (SMF Only) 包复层（折射区） C 区域 Epoxy Ring Zone环氧树脂区域 D区域 Contact Diameter E区域 Ferrule Diameter 可擦除脏污 不允许 液体残余 不允许 不可擦除脏污 不允许 1、10um的污点是可接受的 2、3个在 10um -20 um 之间的污点是可接受的 3、不允许有 20um的污点 任何的 任何的 任何的 斑点(包括黑点/亮点/白点) 不允许 允许一粒直径小于10um的斑点, 忽略直径小于2um的斑点 多个斑点的累加直径应小于30um。 任何的 任何的 任何的 划痕 1) 不允许有任何划痕穿过纤芯或与纤芯相切；2) A区纤芯以外部分允许宽度2 um的划痕。 1、2um的划痕是可接受的 2、只有三条2-5um 之间的划痕是可接受的 3、不允许有5 um的划痕 任何的 任何的 任何的 PC/UPC/APC多模连接头端面外观检查标准： 1）多模连接头端面划痕：通过纤芯（纤芯的直径为50um或62.5um）的划痕不允许超过2条，且划痕宽度必须小于2um，见示例图片6.4.5.1和6.4.5.2）； 2）其余各项检查标准和单模连接头相同。 注意： 1. 可清除的任何污染物一定要被清除. 2. 任何污染物过多的区域受制于最严格的标准. 3. 测量污染物的大小时应使用最大的直径. 6.4 图片示例 （说明：当肉眼无法判定污点/划痕等大小时，须依据对比图做出判定，见下图所示：） 光通道端面判定对比图（仅适用于台式显示器200X放大时使用） 6.4.1 脏污： 上图所示为不可接受的脏污(B区脏污直径超过20um、E区多个脏污的累加直径大于50um) 上图所示为可接受的脏污 上图所示为不可接受的脏污(红圈内A区不允许有任何污点) 6.4.3 斑点： 不可接受的斑点(单个直径超过10um) 6.4.5 划痕（Good – 可接受、bad – 不可接受） a）单模光纤上的划痕： b）多模光纤上的划痕 图6.4.5.1 划痕通过芯径部分，但划痕宽度2um 图6.4.5.2划痕宽度超过2um 七、特例 7.1 不可接受的APC面与PC面装反示例 APC面与PC面装反后在