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ITO成膜工程

ITO 成膜工程 前言 ITO 透明導電膜其組成成份為銦錫氧化物(Indium Tin Oxide),在著色工程後將鍍上一層ITO膜,做為與TFT驅動電路連接的共通電極。其可視光透過率60%以上(愈高愈好),Sheet抵抗值10的8次方Ω∕□以下(低)。其中強調低阻值時需標明膜厚才有意義----Rs(Ω∕□) = ρ(Ω.cm)/d(cm) Sheet抵抗值 Rs(Ω/□)=ρ(Ω/cm)/d(cm) 抵抗率ρ=1/(q×n×μ) q=1.602×10-19C n=電子密度(2.7×10-21cm-3)ex.銀(60×10-21) μ=電子移動度(36cm2/v2) ※為了提高電子密度,會加入Sn,Sn添加後會多結合一個原子,並釋放出電子,造成電子密度增加;但多餘的Sn變成不純物造成電子移動度下降。 最高品質ITO膜的抵抗率=6.8×10-5Ω.cm 成膜方式 化學方法 塗佈 CVD 熱CVD,Hasma,CVD 物理方法 真空蒸著法 抵抗加熱及EB蒸法 Ion Plating ARE(效果最好) ,成本高 Sputter 最適合量產 Sputter的種類 方法 回火 成膜溫度 膜厚 高溫成膜 無需回火 1st約140℃(約1.9kw), 2st約200℃(3.8-4.0kw) 200A,1300A 低溫成膜 真空回火 About 140℃ 1500A 大氣回火 About 140℃ 1500A Fab2 ITO Sputter can change to Fab1 (Fab1低溫成膜,Fab2高溫成膜) ITO 膜厚之決定方式 用電阻值及透過光性得最適當的膜厚 調整膜厚 現在電力值×1500A÷膜厚實測值=變更電力值 ITO 光學特性 Transmission 0.95 膜厚增加,整個波形平移 0.9 0.8 0.7 ※不同的膜厚會有不同的Max,找出最大值來補足B(B在RGB中其Max最小) ※其中400~700nm為人眼可視範圍 ※RGB之波長及穿透率 Tranmission nm Sputter 原理 在Chamber內導入氬及氧之混合氣體,通以直流電。當氮氣體分子(帶正電位)受到負極的影響撞擊Target的表面時,將靶材濺射至Glass基版上,形成一層透明導電膜。 ※ 磁石會移動Target,使其增加使用效率(about30多%) 基板溫度對ITO膜的關係 基板溫度高對ITO膜阻抗降低但因高溫,著色層會昇華造成不純物、色味降低,其中以R最嚴重。其關係由圖1、2表示。其對應方法以2層化ITO膜。 Ω/□ 99 B 97 20 R G 2層化ITO膜 RGB為大氣加熱,故Post-bake的溫度約240℃。 R G B ITO 熱量 ITO為真空加熱,影響大,溫度約20 Target的要求 Cr ITO 純度wt % 99.9(3N) 99.99(4N) 密度 % 7.1g/cm3 98% (比重7.19) (比重7.18) Target均一性品質要求 高溫長時間燒成 ITO膜和應力關係 高 低 低 高 溫度 壓力 原子收縮就有產生應力 IT

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