OI-QA-001REVA测量设备检定指引.pdfVIP

测量设备检定指引 名称: 测量设备检定指引 编号: OI-QA-001 编制人: 覃金住 版本: A 页码: 1of 21 生效日期 2015—10-31 批准页 测量设备检定指引 （依据ISO 9001 ：2008 标准编制） 批 准 翁仲平 签 名 制订日期 2015 年10 月25 日 修订日期 审 核 翁仲平 签 名 编 制 覃金住 签 名 手册状态 测量设备检定指引 1 测量设备检定指引 名称: 测量设备检定指引 编号: OI-QA-001 编制人: 覃金住 版本: A 页码: 2of 21 生效日期 2015—10-31 1、目的 使检定工作标准化，确保公司所使用的量测设备的精度及稳定性，从而保证 产品品质。 2、适用范围 凡本公司所使用的常规量测的量规，量具及仪器. 3、权责 经培训考核合格,由国家承认仪校资格的工程人员负责仪校. 4、定义 无 5、作业内容 5.1 仪器校验分为内校、免校、外校，校验周期分别为三个月，半年，一年。 5.1.1 内校:依据量规,量具的计量性能及最小分度值公司内部可直接检定 的.(如卡尺,内外径千分尺,等) 5.1.2 免校:检测项目精度不高、公差范围较大，或起辅助功能作用，经品 保部经理同意免校之仪器. 5.1.3 外校:依据量规,量具的计量性能及最小分度值公司内部不能直接检 定的.(三次元,投影仪,百分表,测厚规等) 5.2 卡尺 5.2.1 范围：适用于分度值（游标类、带表类）或分辩力（数显类）为 0.01 mm、0.02 mm、0.05 mm 和0.10mm，测量范围上限至2000mm 的通用卡尺. 5.2.2 引用文件：本检定规范引用下列文件：JJG30-2002 《通用卡尺检定规范》 0 0 5.2.3 检定条件：温度：20 C±5 C 湿度： 80%以下，将卡尺及量块、 数显千分尺同时置于平板上1-2 小时. 5.2.4 检定周期：三个月 5.2.5 检定类型:内校 测量设备检定指引 2 测量设备检定指引 名称: 测量设备检定指引 编号: OI-QA-001 编制人: 覃金住 版本: A 页码: 3of 21 生效日期 2015—10-31