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一种片上低触发电压高耐压荦犕犗犁犈犁犇防护结构-湖南大学学报
第 卷 第 期 湖 南 大 学 学 报 (自然 科 学 版 ) , 43 2 Vol.43No.2 年 月 ( ) 2016 2 JournalofHunanUniversit NaturalSciences Feb.2016 y 文章编号: ( ) 16742974201602011504 一种片上低触发电压高耐压 犖犕犗犛犈犛犇防护结构设计 陈迪平 ,刘 杏,何 龙,陈思园 (湖南大学 物理与微电子科学学院,湖南 长沙 410082) 摘 要:设计了一种触发电压低于 , 耐压超过 的低触发、高耐压 10V HBM 4kV 防护结构 通过带钳位的栅耦合 网络来适当抬升 泄放管栅压与衬底 NMOSESD . RC ESD 电压 在提高泄放能力与降低触发电压的同时,依然保持了较高的二次击穿电流 ,从而增 . 犐 t 强了 防护结构在深亚微米 电路 中的 防护能力 该结构最终在 MOS CMOS ESD . CSMC HJ018工艺流片,并通过TLP测试平台测得触发电压低于10V,二次击穿电流3.5A,达到 设计要求. 关键词: ;衬底触发;栅耦合; ESD TLP 中图分类号: 文献标识码: TN47 A AnOnchiNMOSESDProtectionCircuitwithLow p Tri erVoltaeandHihESDRobustness gg g g , , , CHENDiin LIUXin HELon CHENSiuan p g g g y ( , , , , ) Schoo
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