利用原子力显微镜探究污秽颗粒在绝缘子表面的粘附力 research of adhesion force between dust particles and insulator surface using atomic force microscope.pdfVIP

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2017-08-12 发布于上海
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利用原子力显微镜探究污秽颗粒在绝缘子表面的粘附力 research of adhesion force between dust particles and insulator surface using atomic force microscope

高电压技术第39卷第6期2013年6月30日 HighVoItage 30，2013 Engineering，V01．39，No．6，June 利用原子力显微镜探究污秽颗粒在绝缘子表面的粘附力王晶，李燕，梁曦东，刘瑛岩 (清华大学电机工程与应用电子技术系电力系统及发电设备控制和仿真国家重点实验室，北京100084) 摘要：不同材料的绝缘子表面对污秽颗粒的粘附力不同，这是造成不同绝缘子之间积污差异性的重要原因之一。为了研究不同绝缘子对污秽颗粒的粘附力，利用原子力显微镜测量了单个污秽颗粒在不同材料(普通玻璃、硅橡胶、瓷、钢化玻璃)表面的粘附力。结果表明：粘附力的大小与材料性质、表面粗糙度、表面荷电状态等因素有关；与瓷和钢化玻璃相比，硅橡胶对污秽颗粒表现出更大的粘附力。实际绝缘子在运行过程中表面有可能会产生电荷积聚，因此迸一步研究了绝缘材料表面荷电对粘附力的影响，得出结论：试片表面荷电会对污秽颗粒产生较强的长程吸引力作用，但是对粘附力的影响不显著。关键词：原子力显微镜；粘附力；硅橡胶；瓷；钢化玻璃；粗糙度；表面荷电 DoI：10．3969／}。issn．1003—6520．2013。06．010文章编号：1003—6520(2013)06—1352一08 ResearchofAdhesionForceBetweenDustParticlesandInsulator SurfaceAtomicForce Using Microscope WANG Yan，LIANG Jing，LI Xidong，LIUYingyan (State ofControlandSimulationofPower andGeneration KeyLaboratory Systems Equipments， ofElectrical 100084，China) Department Engineering，TsinghuaUniversity，Beijing forcesofdust ondifferentinsulatorsurfacesaredifferent．Thisisoneofthe Abstract：Adhesion important particles reasons thedifferencecontaminationcharacteristicsofdifferentinsulators．Inorderto the causing among study adhesionforceofdifferentinsulatorsondust we atomicforce tomeasurethe acting particles-adopted microscope a different silicone adhesionforceof on rubber， sin91eparticle insulatingmaterials，includingordinaryglass，