基于紫外脉冲法的绝缘子污秽状态监测 faulty insulator on-line monitoring system based non-touching uv pulse method.pdfVIP

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2017-08-12 发布于上海
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基于紫外脉冲法的绝缘子污秽状态监测 faulty insulator on-line monitoring system based non-touching uv pulse method.pdf

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基于紫外脉冲法的绝缘子污秽状态监测 faulty insulator on-line monitoring system based non-touching uv pulse method

第卷第期 32 10 高电压技术 Vol. 32 No. 10 2006 年 10 月 ~i h Volta e En ineerin Oct. 2006 39 g g g g 基于紫外脉冲法的绝缘子污秽状态监测 1 2 1 3 4 4 何为 !陈涛 !杨帆 !姚德贵 !齐小伟 !尹康重庆大学电气工程学院!重庆 # 重庆电力试验研究院!重庆 # 1. 400044 2. 400000 河南电力试验研究院!郑州 # 北京电力公司!北京 $ 3. 450052 4. 100000 摘要:为及时监测绝缘子的污秽状态根据绝缘子污秽程度与放电脉冲的关系和绝缘子放电时紫外脉冲的特性提出了一种基于紫外脉冲法的绝缘子污秽状态在线监测技术通过绝缘子放电强度和次数的变化判断绝缘子污秽程度 110 kV 线路试验的结果表明在线监测表面放电时的紫外脉冲可监测绝缘子的污秽状态且不需接触绝缘子与绝缘子的距离可以达到4 m 关键词:绝缘子污秽在线监测紫外脉冲法日盲区中图分类号: ; 文献标识码: 文章编号: ( ) TM755 TN23 A 1003-6520 2006 10-0039-04 Fault Insulator 0 n-line Monitorin S stem Based y g y Non-touching UV pulse Method 1 2 1 3 4 4 ~E Wei C~EN Tao YANG Fan YAO De ui OI xiaoWei YIN Kan g g