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2017-07-31 发布于河北
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饱和电抗器特性单片机测试仪研究

第17卷第2期电力系统及其自动化学报 V01．17No．2 oftheCSU—EPSA 2005 2005年4月 Proceedings Apr．饱和电抗器特性单片机测试仪研究张俊峰，毛承雄，陆继明，李维波 (华中科技大学电气与电子工程学院，武汉430074) 摘要：介绍一种研究可控饱和电抗器输出特性的单片机测试仪，用于检测并处理可控饱和电抗器中的感应线圈电压波形的平均值、有效值。当交流激励直接让饱和电感处于饱和状态时，研究感应线圈电压与直流偏磁磁势之间的关系曲线，并绘制它的开环输出特性。关键词：饱和电抗器；输出特性；单片机；测试仪中图分类号：TM933．1文献标识码：A 文章编号：1003—8930(2005)02—0058—05 ofSaturableReactor of ProcessorInstrumentation Property StudySingle—chip ZHANG Wei—bo Ji—ruing，LI Jun—feng，MAOCheng—xiong，LU of (SchoolElectricalElectronic Engineering，HuazhongUniversity of 430074，China) ScienceTechnology，Wuhan Abstract：Aninstrumentationbasedon is for the of single—chipprocessorpresentedstudyingoutputproperty rolein with valueoftheinduced saturablereactor．Theinstrumentationcan in RMS playimportantdealing ofthecoilinthesaturablereactor．Therelationcurvebetweeninduced RMSandDCis voltage voltage given． results thecorrectnessoftheinstrumentation． verify Experimental words：saturablereactor；output processor；instrumentation Key property；single—chip 最简单的饱和电抗器，由直流控制绕组(匝数 1 前言为W。)、交流激励绕组(匝数为肌)和环形铁芯(磁饱和电感是一种磁滞回线矩形比高，起始磁