《研发可靠性试验》.pdf

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《研发可靠性试验》

工程计算与电路系统可靠性设计技术 第一章:电路可靠性设计原则 1.1 拉氏变换的物理含义与电路设计应用 1.2 微积分与电路设计的应用 1.3 概率论数理统计提升电子产品质量的应用方法 1.4 基础代数的电路设计工程计算应用 1.5 datasheet参数解读及对电路性能的影响 2 1.1 拉氏变换的物理含义与电路设计应用 S jw 频域信号 d S 时域信号 dt 1 SC 1 V V * V * i 1 i 2 SL  1S LC SC 3 1.2 微积分与电路设计的应用 1. 得到系统的总精度要求 2. 找出影响总精度的各分模块 3. 推导出系统输出值与各模块测控物理量的工程计算公式 4. 根据工程计算公式,做微分运算,推导出影响总精度的所有要素,然 后按照工程经验将精度要求指标分配给各影响参数 5. 分析工程设计上是否能实现各器件或模块级的被分配精度要求 6. 能实现则照此精度分配结果进入工程设计阶段;不能实现则回到第4步, 继续调整局部精度要求,反复第4-6步骤的内容。 4 H = L * sinθ △H = △L * sinθ + L△θcosθ θ arctg (△L/Lmax*△θ)时 2 2 △Hmax=sqrt(△L + (Lmax*△θ)) 测高仪系统设计要求如下: 则误差可分配为: 系统精度△Hmax :4m ; 测距误差△L :2m ; 最大测距Lmax :2km ; 测角误差△θ :0-1密位 (1密位=2π/6000弧度) 2 2 将分配误差代入,△H=sqrt (2 + (2π/3) )≈2.896 ,满足系统精度 △Hmax≤4m的要求。 0 0 注:1个密位=0.06 ,(中国采用6000密位制,即将1周360 分成

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