CS 基础概念.PPT

Introduction to EN 61000-4-6 General 一般概述 Generator parameter 產生器參數 RF-Signal, Voltage 射頻信號 ,電壓 Coupling Network 偶合網路 Calibration 校正 Test setup 測試佈局 Interpretation of test results 測試結果說明 General 藉由無線頻率能量達到傳導干擾目的,當電流流過待測物所連接電源線或信號線時由於近場效應此時電源線或信號線因為電流流過相對產生電磁場此時纜線形同被動天線耦合到待測物體 頻率分佈 產生器參數 IEC-Frequency range from 150 kHz ... 80 MHz CENELEC from 150 kHz ... 230 MHz Modulation frequency: 1 kHz Modulation depth of 80 % Remark: European Committee for Electrotechnical Standardization 參數解釋 100 MHz and 1 V rms (1 V 有效值) Multiplying the factor of root square 2 = 1.414 to this 1 V, (開根號) Up equal 1.414 V or Upp of 2.82V Parameter interpretation Adding the modulation frequency of 1 kHz ( 將原100MHz信號加上1kHz之調變信號) Parameter interpretation Adding the amplitude of +/- 80 % of UP (1.131 V) Test Levels (測試位準) Level 1 : 1 V Level 2 : 3 V Level 3 : 10 V Level X : special 以上為開路電壓位準說明為有效值且為非調變干擾信號舉例:位準3為10v 有效值故調變之峰對峰值為: 與其他標準交叉參考 於標準內說明有效值電壓之差異 基於調變之原理調變信號具有一個因素(K)比未調變之信號高的有效值電壓 Coupling Network 耦合網路 標準提出三種將射頻信號耦合進入被測線之方式 Coupling Network 耦合網路 簡單測試佈局 Coupling Network 耦合網路 Under ideal conditions the AE and EUT has an impedance of 150 Ohm. During the RF injection there will flow the same current to the EUT as well as to the AE. 理想狀況下AE端及EUT端皆有150歐姆阻抗當執行射頻干擾信號注入期間流經AE端與EUT端之電流必須相同 Coupling Network 利用電路將CDN內部流經AE端之電流完全阻絕不要讓其電流耦合到AE端 Calibration 校正 依據標準測試之目的是要將一定之功率注入到待測物做測試但所有不同之耦合方式其所連接之耦合器與接線連接頭之路徑皆非線性故有必要於執行測試之前做校正來修正測值 Calibration Calibration setup for the EM Clamp電磁夾具之校正 Calibration Calibration setup for the CIP 電流注入夾具 Calibration 使用電磁夾具與非偶合夾具共用場合連線方式 Calibration 校正 使用電磁夾具(EM Clamp)或電流注入夾具(CIP)與監測探棒(Sensor probe) 連線圖 Test setup with CIP 使用電流注入式量測佈局 Test setup with EM-Clamp 使用電磁夾具量測佈局 Test setup with CDN 使用耦合非耦合網路量測方式 Test results 測試結果 參數設定之後必須去觀測EUT在測試範圍內一切變化動作如外觀或聲響等變化 除非在產品標準有不同之規格說明否則基於操作狀況及待測物之功能規格測試結果必須必須做分類等級 測試結果等級區分 Normal performance within the specification limits. 在規格限定範圍內還能維持正常操作 Temporary degradation or loss