电容型试品介质损耗因数变化的原因与分.pdfVIP

第39卷 第9期 1r# Vol.39 2002年 9月 2泥JN 笋刀嗽 左R September N2o00.92 颧 电容型试品介质损耗因数变化的原因与分析 渔籽 雄 妒 载昌彬t，洪贞贤2 (1.珠海电力局，厂东 珠海 519001;2j@德电力局，广东 顺德 528300 摘要;通过对电容型试品的绝缘介质损耗因数在不同的试验条件下变化原因的分析 总结出判M其绝缘缺窿的古 详 关键词:电流互感器;电容型试品;介质损耗因数;试验 中国分类号:TM407 文献标识码:B 文章编号:1001-8425(2002)09-0038-04 表I I.BI-It0电流互感器试验结果 l概述 电力系统广泛地使}ill电容型结构的电力设备， 如电流互感器、套管、祸合电容器和电容式电压互感 器((CVT)一在进行该类试品交接验收和预防性试验 时，应测量主绝缘的电容值C,和介质损耗因数 (tan匀，以判断其绝缘状况。由于条件所限，现场试 验电压为IOkV 而出厂试验电压可加到最大相电 压 般情况下，验收或预试时tan,5变化很小，但我 们在现场试验时亦发现部分电容型电力设备的tans 津:试验时环境温度为30弋 明显异于出厂值，归纳起来有以 卜现象 互感器的试验结果。测量时一次加电压 末屏接测量 (1)IOkV试验电压下tan5远大厂出]值，且随 线，二次短接接地，交接试验时间为出)试验后3个 试验电压升高tan8值基本不变，即tans发生回升现 多月 象 表2为某供电局在套管出厂3-6个月时进行 (2)IOkV试验电压下tans远大于出厂值，当试 验收的试验结果，发现有60余只电容型套管tans 验电压增加时，tans值减少，在出厂试验电压下与出 值均比出厂值明显增大，表中仅列出其中6只套管 厂值基本相近，即tan髯八切明显下降。 的试验结果 (3)tan8与试验温度有明显关系，即温度增加时 由表 1、表2可以看出: tans值明显增加 (1)验收试验时，随着试验电压的变化tanS基 本不变，但与出厂试验值相比，明显增大 2 tans值的回升现象 (2)验收试验时，电容量变化很小，一般仅为 表 !列出某供电局交接验收LBI-110型电流 3%左右 坏 例如;在瓷串试验的一次闪络时，闪络电压 备、试品和测量仪器能够就近接地，井且，对低压电 It00kV，引起地电位升高，使吊挂瓷串的吊车起动 源要加装过电压保护(如压敏电阻);对试区的接地 (磁力开关吸合);在另 一次闪络时，地电位升高，又 电阻要定期(如2年)测量，并存档备查- 使试区附近的 砂“轮”起动。由此叮见，工频闪络电 洛A 宇 压也会使地电位升高。所以，在工频电压试验时，要 (沈阳9f,W,有限责任公-1,辽宁 沈阳110025) 考虑试品击穿的可能性，要根据试品击穿的条件设 收稿 日期:2001-09-26 计试区的接地网(接地电阻小于111),并使试验设 (待续) 万方数据 第 9斯 戴昌彬、洪贞贤:电容型试品介质损耗因数变化的原因与分析 表 2 电容型套管试验结果 内无法使绝缘含水量平衡。由于干燥绝缘的电W量