应用段固定折叠计数器的低功耗测试方案 - 应用科学学报.PDFVIP

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2017-06-24 发布于天津
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28 4 Vol. 28 No. 4 20107 JOURNAL OF APPLIED SCIENCES — Electronics and Information Engineering Jul. 2010 DOI: 10.3969/j.issn.0255-8297.2010.04.012 1230009 2100090 . . ISCAS-89 . TP391.72 0255-8297(2010)04-0399-07 Low Power Test Scheme Based on Segment Fixing Folding Counter CHEN Tian , LIANG Hua-guo , ZHANG Min-sheng , WANG Wei , YI Mao-xiang 1. School of Computer and Information, Hefei University of Technology, Hefei 230009, China 2. Institute of Computing Technology, Chinese Academy of Sciences, Beijing 100090, China Abstract: A test pattern generation method for low power test is proposed. The deterministic set of test cubes is embedded into the test pattern sequences generated with a segment ﬁxing folding counter. This test pattern generator relies on the random access scan (RAS) architecture. In RAS, a new test pattern is directly loaded into scan cells without a shift procedure. Experimental results on ISCAS-89 benchmark circuits demonstrate that this scheme can reduce data volume, application time and power consumption of the test simultaneously. Keywords: segment ﬁxing, random access scan, data compression, low power . . . 3 . . .