2012IEEEEMC闺际学术研讨会-WTO检验检疫信息网.PDFVIP

论文椒英. 2012 IEEE EMC 闺 际学术研讨会 4手 攻 2012 IEEE International Symposium on EMC--Shielding Shielding Effectiveness Estimation of 的平均 Q值，可以通过式(2)得出 : Physically Small Electrically Large Enclo- Q-l = Ql-+ Q; + Q;1+ Q;1 ( 2 ) sures through Dimensional Scaling 其中 ， Ql 是腔体导电壁的损花; Q2 是腔体中任意 1 摘要: 通过对电气可扩展性的研究， 提出了带有三种电 吸收介质的吸收损耗; Q3 是缝隙损耗; Q4 是祖1 J 量天线 尺寸孔缝的屏蔽体实例，并讨论了这三种孔缝的关系。 内部的损耗。 利用Q值对兰种受试屏蔽壳体之间的关系进行了检验。 三个屏蔽壳体都有一面是可拆卸的， 通过黄铜虫草!钉 关键词: 1昆响室; 屏蔽效能测试; 品质因数: 屏蔽壳体 固定， 如图 l所示;拆卸丽可安装四种面板，拆卸面与 视点: 基于成比例电尺寸推导小屏蔽体屏蔽效能的方法 面板之间的缝隙填充导电衬垫;拆卸而上开孔方式有四 验证过程。 种.分别是 o. m. x 0.7λ 的细槽 ( 情况 I ) 、 边长 0. 261 测量一个电大尺寸但实际物理尺寸很小的屏蔽体 的小方孔(情况2 ) 、 边K 0.62λ 的中方孔 ( 情况 3 ) 和 的屏蔽效能 ( SE ) 非常困难， 因为在屏蔽体内部放置 边长 0. 8似 的大方孔(情况4 ) 。 测量天线时不能影响天线性能。而随着电子系统尺寸缩 小， 测量其屏蔽壳体的难度也随之增加. IEEE Std .299 标准工作组也提出了这个问题。 作者采用了物理尺寸相对较大的屏蔽壳体( 参照 物) .用于评估小尺寸屏蔽壳体(目标物) 的 SE。参 照物的物理尺寸能够容纳合适的测量天线，且不影响天 线性能。假设参照物和目标物均由金属导体构成，并且 电磁能量的入口主要是屏蔽壳体上面设置的孔。 不同目 标物和目标物开孔的尺寸乘以相同的系数得到相应的参 照物尺寸参数。 使用在1昆晌室中放置(嵌套) 目标物或 参照物的方法， 测量目标物或参照物的屏蔽效能。 上述测试方法要求在工作频率， 1昆1 响室的谐振模 数至少为60。 最小可用频率fmi n可用韦尔定律 ( Weyl s Law) 逆推得到; 在屏蔽壳体几何参数固定的情况下， 特定频率f与谐振模数N (j) 的关系可由式( I )表示: M/) =乓旦ζ ( I ) 图 1 测试中使用的屏蔽壳体和面板的连接方式 j C 其中. V. 是屏蔽体的体积; C 为光速。 从式 ( I ) 拆卸面上的孔缝和屏蔽壳体尺寸均与测试频率的 可以看出 ，在 N (j) 相同的条件下， 小屏蔽体必须 波长相对应，其中最小的屏蔽体测试频率为 8 GHz ， 中 保证具有更高的频率。对