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2017-06-21 发布于湖北
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IMEKO TC4 International Workshop on ADC Modelling, Testing and Data Converter Analysis and Design 2011 (IWADC 2011) and IEEE 2011 ADC Forum Orvieto, Italy 30 June - 1 July 2011 ISBN: 978-1-61839-279-4 Printed from e-media with permission by: Curran Associates, Inc. 57 Morehouse Lane Red Hook, NY 12571 Some format issues inherent in the e-media version may also appear in this print version. Copyright© (2011) by the International Measurement Federation (IMEKO) All rights reserved. Printed by Curran Associates, Inc. (2011) For permission requests, please contact the International Measurement Federation (IMEKO) at the address below. IMEKO-International Measurement Federation Secretariat P.O. Box 457 H-1371 Budapest Hungary Phone/Fax: +36 1 353 1562 imeko@t-online.hu Additional copies of this publication are available from: Curran Associates, Inc. 57 Morehouse Lane Red Hook, NY 12571 USA Phone: 845-758-0400 Fax: 845-758-2634 Email: curran@ Web: Table of Contents Standardization (Chair: Tom Linnenbrink) IEEE TC-10: Update 20 pp. 13-18 Thomas E. Linnenbrink, (Hittite Microwave Corporation, USA) William B. Boyer, (Sandia National Laboratories - retired, USA) Travis Ellis, (Samtec NW Design Center, Canada) Nicholas G. Paulter, Jr., (National Institute of Standards and Technology, USA) Steven J. Tilden, (LTX Credence, USA) New Features of IEEE Std 1057-2007 Digitizing Waveform Recorders pp. 19-24 William B. Boyer, (Sandia National Laboratories - retired, USA) Thomas E. Linnenbrink, (Hittite Microwave Corporation, USA) Jerome Blair, (Secretary, Waveform Gene