实验七门电路和组合逻辑电路的设计摘要.pptVIP

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2017-06-16 发布于湖北
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实验七门电路和组合逻辑电路的设计摘要.ppt

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1 实验目的 3 实验内容与步骤 2 实验设备实验目的掌握 TTL集成与非门的逻辑功能的测试方法掌握用与非门构成其他常用门电路的方法熟悉数字电路试验箱的结构，基本功能和使用方法熟悉用74LS00和74LS86设计一个半加器，并测出其真值表实验设备序号名称型号与规格数量 1 数字电路实验箱 THD-1 1 2 二输入四与非门 74LS00 1 3 二输入四异或门 74LS86 1 找到实验箱上74LS00与74LS86的位置，观察芯片安装方向。芯片插座 1、检查芯片 2、观察数字电路实验箱电源开关输出显示芯片电源：+5V地芯片输入信号：高、低电平 3、集成逻辑门的引脚排列将74LS00芯片接通电源，选择一个“与非”门接入输入信号，输出信号接到发光二极管显示电路，测试与非门的逻辑功能。 4、测试74LS00与非门和74LS86异或门的逻辑功能输入输出 A B Y1 Y2 0 0 0 1 1 0 1 1 74LS00与非门测试线路再将芯片换成74LS86，测试其功能。 5、用“与非”门实现其他逻辑门 (1)“非”门 Y3=A (2)“或”门 Y4=A+B B A Y4 12 13 11 4 5 6 9 10 8 Y3 A 1 2 3 输入输出 A Y3 0 1 输入输出 A B Y4 0 0 0 1 1 0 1 1 6、使用74LS00和74LS86实现半加器半加器真值表 S C B A =1 1 2 3 4 5 6 74LS00 74LS86 1 2 3 输入输出 A B C S 0 0 0 1 1 0 1 1