门电路的逻辑功能及测试(2013.4.1).pptVIP

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2017-06-16 发布于河南
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门电路的逻辑功能及测试(2013.4.1).ppt

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门电路的逻辑功能及测试(2013.4.1)

数字逻辑与数字系统实验;（一）利用实验箱认识数字芯片门电路的逻辑功能及测试（二）利用EDA软件实现数字电路设计介绍软件的使用触发器参数与功能测试时序电路测试及研究集成计数器的应用（分频电路）显示电路的设计综合电路设计 ;课程要求 ;实验一：门电路的逻辑功能及测试;实验原理;实验原理;(1)(美国)德克萨斯公司(TEXAS) 例：SN 74 LS 74 J ① ② ③ ④ ⑤ 说明： ①表示德克萨斯公司标准电路 ②表示工作温度范围 54系列：(一55～+125) ℃，74系列：(0～+70)℃ ③表示系列 ALS：先进的低功耗肖特基系列 AS：先进的肖特基系列 ④表示品种代号 ⑤表示封装形式 J：陶瓷双列直插 N：塑料双列直插 T：金属扁平 W：陶瓷扁平 ;实验原理;实验原理;CMOS命名方法; 5V CMOS: 低电平输入电压范围UIL ：0－ 1.5V。高电平输入电压范围UIH ：3.5－5V。低电平输出电压范围UOL：不大于0.33V。高电平输出电压范围UOH ：不小于4.4V，;集成电路使用规则和方法：;实验芯片介绍;1、测试门电路逻辑功能;操作说明;2、异或门逻辑功能测试;3、逻辑电路的逻辑关系;4、用与非门组成其它门电路并测试验证; 实验一门电路的逻辑功能及测试