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烧结温度对SiO_2-TiO_2薄膜亲水性的影响

第41卷第9期 应 用 化 工 Vo1.41No.9 2012年 9月 AppliedChemicalIndustry Sep.2012 烧结温度对 SiO2一TiO2薄膜亲水性的影响 许晓丽,吕德涛 (中国电子科技集 团第三十三研究所,山西 太原 030006) 摘 要:为了确定 SiO~-TiO 薄膜制备过程的最佳烧结温度 ,将不同SiO2与TiO 掺杂比的样品分别在400oC和 500℃下煅烧,进行与水的静态接触角测试。结果表明,在一定掺杂比范围内,SiO:的掺杂能明显提高TiO 表面亲 水性,并且 500oC煅烧的产品亲水性要好于400℃煅烧的产品。SEM和XRD表明,500℃煅烧的产品表面颗粒粒 径要大于400oC煅烧的产品的表面颗粒粒径,并且 已有了比较明显的锐钛矿晶型特征峰,而400oC煅烧的产品还 是无定形态,这说明SiO 的掺杂抑制了TiO 晶粒的生长和晶型的转变。而锐钛矿晶型的TiO 亲水性要远好于无 定形的TiO2,致使500oC煅烧的产品的亲水性要好于400℃煅烧的产品的亲水性,因此500qC才是 SiO:.TiO薄膜 的最佳烧结温度。 关键词:SiO一TiO 薄膜;亲水性 ;烧结温度 中图分类号:TQ013.1 文献标识码 :A 文章编号:1671—3206(2012)09—1537—03 InfluenceofheattemperatureonSiO2-TiO2film hydrophilicity XUXiao—li,Lt2De—tao (N0.33ResearchInstituteofChinaElectronicsTechnologyGroupCorporation,Taiyuan030006,China) Abstract:Inordertodeterminetheoptimum heattemperatureofSiO2一TiO2film preparationcoursew e , calcineddifferentSiO2dopingTiO2samplesunder400 oC or500℃ usingmufflefurnace,andthenhte behaviourofthesefilmswerecheckedbycontactangletesting.Theresultsshowedthatwihtineertaindo. pingrange,thehydrophilicbehaviorofsamplesdopedSiO2haveobviousimprovement,andwihtinthat rangethehydrophilicbehaviorofsamplescalcinedunder500qC isbetterthanhtatofsamplescalcined under400cI=.SEM andXRD indicatedthat:theparticlediameterofsamplescalcinedunder500oC is bigger,andsampleshaveanatasepropertises,whilesamplescalcinedunder400c=【haveamorphism fea. ture.SiO2dopinghasinhibitedgrowht ofTiO2crystalparticleand~ansform ofTiO2crystalfomr .Thehy— drophiliebehaviorofanatasecrystalofrm ismuchbetterhtanthatofamorphism ,SO500oC ishteoptimum temperatureofSiO2-TiO2film prep

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