TD-LTE系统终端邻道泄漏功率比的测试方法 .pdfVIP

学兔兔 第32卷 第10期 仪 器 仪 表 学 报 Vo1．32 No．1O 2011年10月 Chinese Journal of Scientific Instrument 0ct．2011 TD．LTE系统终端邻道泄漏功率比的测试方法 王妮娜 ，张 治 ，姜 军 ，唐 恬 ，孙彦良 (1北京邮电大学信息与通信工程学院 北京 100876；2北京星河亮点通信软件有限责任公司 北京 100102) 摘 要：LTE(1ong term evolution)及其后续演进已成为全球移动通信领域开发的热点。在LTE产业链中，终端射频测试是相对 薄弱的环节；信道带宽的增大又对采样速率及硬件处理能力提出很高的要求，成为制约终端射频指标测试的瓶颈。在分析终端 射频邻道泄漏功率比(adjacent channel leakage power ratio，ACLR)测试原理、测试方法及实现技术的基础上，提出一种通过修改 测试仪表接收机射频本地振荡器频率来增大观测带宽、降低采样速率的测试方法。该测试方法具有很好的灵活性和可扩展性， 大大降低测试成本，因此具有很大的市场应有价值。 关键词：LTE；邻道泄漏功率比(ACLR)；射频本振；数模变换(ADC) 中图分类号：TN98 文献标识码：A 国家标准学科分类代码：510．5015 Test method of adjacent channel leakage ratio for TD-LTE terminal Wang Nina。 Zhang Zhi ，Jiang Jun ，Tang Tian 一，Sun Yanliang ， ( School of Information and Communication Engineering，Beijing University of Posts and Telecommunications， Beijing 100876，China；2 Beijing Starpoint Communications Software Co．Ltd．，Beijing 100102，China) Abstract：LTE(1ong term evolution)and its advanced technology have become a hotspot for worldwide mobile com— munication development．Terminal RF test is a weak point in LTE industry chain．This paper proposes a novel meth— od for testing the adjacent channel leakage ratio(ACLR)through modifying the~equency of local RF oscillator to increase the observation bandwidth and reduce the sampling speed．The proposed method has great market value for its high flexibility，scalability and low hardware costs． Key words：LTE；adjacent channel leakage ratio(ACLR)；local RF oscillator；analog—to—digital conve~er(ADC) 和系统容量 。TD—LTE，即LTE TDD模式，是基于我国 1 引 言 自主开发的第3代移动通信技术国际标准之一的TD—