04 无损检测技术及其应用--射线检测.pptxVIP

无损检测技术及其应用 --射线检测;;;1895年德国物理学家---“伦琴”发现X射线 1895-1897年伦琴搞清楚了X射线的产生、传播、穿透力等大部分性质 1901年伦琴获诺贝尔物理奖,首位诺贝尔物理奖获得者 ;X、?射线是电磁波，与其它电磁波的区别在于波长不同及产生方法不同。;;韧致辐射： 高速运动的电子与物体碰撞时，发生能量转换，电子的运动受阻失去动能，其中一小部分(1％左右)能量转变为X射线，而绝大部分(99％左右)能量转变成热能使物体温度升高。;产生条件： 灯丝 产生自由电子 高压 使电子作定向的高速运动 靶 在其运动的路径上设置一个障碍物 使电子突然减速或停止,产生X射线。;产生过程： X射线管的阴极灯丝通过电流，被加热到2000。C以上后发射电子，这些电子聚集在灯丝附近。当X射线管的阳极和阴极之间的空间后撞击到阳极靶上。通过韧致辐射，电子的一部分动能转化为X射线，从X射线窗口辐射出来。电子的大部分动能传给了阳极靶，使它迅速升温。;;;射线检测: 利用物质在密度不同、厚度不同时对射线的衰减程度不同，如果物体局部区域存在缺陷或结构存在差异，它将改变物体对射线的衰减，使得不同部位透射射线强度不同，从而使零件下面的底片感光不同的原理，实现对材料或零件内部质量的照相探伤。;3、射线检测原理;3、射线检测原理;3、射线检测原理;3、射线检测原理;;f—射线源到工件源 侧表面的距离。 F—射线源到胶片 表面的距离。 —照射角。 L—有效透照区的宽度。 T—工件厚度，也叫透照厚度。;主要包括以下几个方面： 1. 射线源、工件、胶片的相对位置 2.中心射线束方向 3.有效透照区(一次透照区) 4. 像质计的放置 5. 标记系的使用 6. 防散射措施等。 ; 基本原则： 使透照区的透照厚度差小，更有效地对缺陷进行检验。 考虑因素： 照相灵敏度 缺陷检出特点 透照厚度差和横向裂纹检出角 一次透照长度 操作方便性 试件及探伤设备具体情况;纵向裂纹;4、射线检测工艺