2008年材料科学研究方法考试试题答案.docVIP

PAGE  PAGE 3 北京化工大学2007——2008学年 第 2 学期 《材料科学研究方法》期末考试试卷(A卷) 一、名词解释（每题2分，共20分） 特征X射线谱：当入射波增大到与阳极靶相适应的强度时，会在连续谱上出现一系列强度高、范围窄的线状谱线，这些谱线都是与特定的物质有严格恒定的关系，因此称为特征X射线谱。 布拉格方程式：散射线发生相干衍射，也可以称为晶面反射所必需满足的条件。方程式为2dsinθ= nλ.其中d为晶面间距，θ为入射线或反射线与晶面的夹角，λ为入射线波长，n为衍射级数。 结构因数：结构因数是表征单细胞对衍射强度的影响，只与原子的种类，在晶胞中的位置有关，而与晶胞大小和形状无关。 内应力：当加于物体上的外力消失时，由于材料形变和体积变化不均匀而残留在物体内部且自身保持平衡的力。 电磁透镜：用磁场使电子束聚焦成像的装置。 电子衍射操：将倒易点阵转化成正空间点阵，并记录下来的操作方法 消光距离：消光距离：在物体深度方向由于衍射线与透镜线动力学相互作用，产生沿深度方向的强烈的电子波振荡，电子波振荡的周期叫消光距离 差热分析法：在仪器控温下，测量样品温度随温度或时间变化，从而研究物质的结构、组成等性质变化的方法。 膨胀分析：测量试样在加热或冷却时长度的变化，来研究物体内部结构、性能等的一种分析方法。 电阻分析：通过测量样品电阻变化，来获得物体组结和结构变化规律的一种方法。 二、选择题（每题只选一个答案，每题2分，共30分） 1.X射线在穿透物质后衰减，除主要部分是由于真吸收消耗于光电效应和热效应外，还有一部分是偏离原来的方向，即发生了 ① 。 ①散射 ②透射 ③荧光辐射 ④俄歇效应 2.如果(h k l)的晶面间距是d，则(nh nk nl)的晶面间距为 ① 。 ①d/n ②nd ③dn ④d 3.进行德拜花样的爱瓦尔德图解时，认为粉末试样中各晶粒的(HKL)面间距 ① 。 ①均相等 ②部分相等 ③部分不相等 ④均不相等 4.非晶态结构的径向分布函数描述了非晶态物质 ① 范围内的原子分布。 ①短程有序 ②短程无序 ③长程有序 ④长程无序 5.变焦是透射电镜的???大特点，其焦距可通过电流与电压来调节，要想使其焦距变长，则 ① 。 ①增大电压、减小电流 ②减小电压、减小电流 ③增大电压、增大电流 ④减小电压、增大电流 6.在入射电子束作用下被轰击出来并离开样品表面的核外电子叫做 ① 。 ①二次电子 ②背散射电子 ③X光子 ④俄歇电子 7.透射电镜一般不具备 ① 的功能。 ①样品表面形貌分析 ②样品具体结构分析 ③样品内部晶体缺陷分析 ④非导电样品分析 8.离子探针仪是利用电子光学方法把初级离子加速后轰击样品表面，然后收集检测 ① ，以得到样品表面化学成分信息。 ①二次离子 ②一次离子 ③二次电子 ④一次电子 9.俄歇电子产额随原子序数的增加而 ② 。 ①增加 ②减小 ③不变 ④无规律 10.根据热容理论，金属的热容与除受热后点阵离子体积膨胀对外做功外，还与 　① 有关。 ①电子热容 ②离子热熔 ③原子振动 ④原子波动 11.侧倾法的衍射特点是测量平面与扫描平面成 ① 。 ①90° ②0° ③45° ④任意角度 12.1A族元素的线膨胀系数都是随原子序数增加而 ① 。 ①增大 ②减小 ③不变 ④无规律 13.能带理论认为导体材料具有允带之间没有 ① 或允带相互重叠结构。 ①禁带 ②空带 ③满带 ④导带 14.铁磁性金属磁化时具有磁滞现象，容易磁化达到饱和状态，并且其 ① 不是定值，而是变化很大。 ①磁化率 ②辞职损失 ③矫顽力 ④磁滞效应 15.对于铁磁性金属来说，当其受到压应力作用时 ① 。 ①电阻减小、磁性增大 ②电阻减小、磁性减小 ③电阻增大、磁性增大 ④电阻增大、磁性减小 三、简答题（每题6分，共30分） 1.试比较透射电子显微镜的成像操作和衍射操作的异同点。 答：不同点：成像操作是物镜的相与中间镜的物平面重合，得到放大的样品图像。衍射操作是物镜的背焦面与中间镜物平面重合，得到衍射图样。 相同点：都是用聚焦电子束穿透膜样品，在荧光屏成像。 2.电子探针和电子显微镜都能进行元素分析，请比较它们在分析元素时的异同点。 答：不同点：电子探针是通过分析来自样品的特征X射线来分析样品元素的成分和含量。扫描电子显微镜是通过采集来自样品的背散射电子，采用村度原理来分析样品元素的成分和含量。相同点：都是用电子束轰击样品，前面部分装置相同，因此可以结合使用，都可以进行样品元素及其含量分析。 3.比较扫描隧道显微镜的