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仪器分析第3章发射光谱
第三章 原子发射光谱法;特点:
优点——灵敏度高、简便快速、可靠性高、 所需原料少
缺点——不能分析有机物及大部分非金属元素, 仪器设备复杂、昂贵。
应用:矿石、金属、合金、半导体等试样中的杂质分析。;一、原子发射光谱分析的基本原理;激发态原子;原子发射光谱示意图; 一般情况下,原子处于基态,在激发光源作用下,原子获得能量,外层电子从基态跃迁到较高能态变为激发态 ,约经10-8 s,外层电子就从高能级向较低能级或基态跃迁,多余的能量的发射可得到一条光谱线。
; 原子中某一外层电子由基态激发到高能级所需要的能量称为(原子)激发电位。
; 当外界的能量足够大时,可把原子中的电子激发至无穷远处,也即脱离原子核的束缚,使原子发生电离成为离子的过程,使原子电离所需的最低能量叫电离电位。离子也可能被激发,离子中的外层电子被激发所需的能量叫(离子)激发电位。;基态:原子所处的最稳定状态,此时它的能量最低
激发态:原子获得足够的能量后,外层电子从低能级跃迁到高能级后所处的状态
(原子)激发电位:Ej,将原子中的一个外层电子从基态跃迁到激发态所需的能量,单位 ev ;电离:当外界的能量足够大时,可把原子中的电子激发至无穷远处,也即脱离原子核的束缚,使原子发生电离成为带正电的离子的过程
电离电位:使原子电离所需的最低能量
(离子)激发电位:离子中的外层电子被激发所需的能量; X+h?(电,热)?X*
X*?X+h?(光能)
X:基态原子,X* :激发态原子; 原子的外层电子由高能级向低能级跃迁,能量以电磁辐射的形式发射出去,这样就得到发射光谱,原子发射光谱是线状光谱。;原子发射线的表示; 设i、j两能级之间的跃迁所产生的谱线强度Iij表示,则
Iij = NiAijh?ij
Ni为单位体积内处于高能级i的原子数,Aij为i、j两能级间的跃迁几率,h为普朗克常数, ?ij为发射谱线的频率。
; Ni = N0 gj/g0e (-Ei / kT)
式中Ni 为单位体积内处于??发态的原子数, N0为单位体积内处于基态的原子数, gi,g0为激发态和基态的统计权重,Ei为激发电位,k为玻兹曼常数,T为激发温度。;统计权重
谱线强度与激发态和基态的统计权重之比成正比。
跃迁几率
谱线强度与跃迁几率成正比。跃迁几率是一个原子在单位时间内两个能级之间跃迁的几率,可通过实验数据计算。;
激发电位和电离电位
谱线强度与激发电位成负指数关系。在温度一定时,激发电位越高,处于该能量状态的原子数越少,谱线强度越小。激发电位最低的共振线通常是强度最大的线。;激发温度
温度升高,谱线强度增大。但温度升高,电离的原子数目也会增多,而相应的原子数减少,致使原子谱线强度减弱,离子的谱线强度增大。
基态原子数
谱线强度与基态原子数成正比。在一定的条件下,基态原子数与试样中该元素浓度成正比。因此,在一定的条件下谱线强度与被测元素浓度成正比,这是光谱定量分析的依据。;激发电位和电离电位Ej
在T一定时, E ,Ni , Iij 。激发电位最低的共振线通常是强度最大的线。;4、原子发射光谱图;;5、谱线的自吸和自蚀; 发射光谱是通过物质的蒸发、激发、迁移和射出弧层而得到的。在一般光源中,是在弧焰中产生的,弧焰具有一定的厚度,如下图:;自吸和自蚀; 发射谱线的宽度比吸收谱线的宽度大,所以,谱线中心的吸收程度要比边缘部分大,因而使谱线出现“边强中弱”的现象。当自吸现象非常严重时,谱线中心的辐射将完全被吸收,这种现象称为自蚀。;小结;二、原子发射光谱的分析仪器;光源;常用光源性能比较;分光系统;检测器;摄谱仪:(利用照相机方式记录谱线)
棱镜;光栅
大型(分析具有复杂光谱的物质)
中型(一般元素分析)
小型(简单分析)
映谱仪(光谱投影仪):放大。
测微光度计(黑度计):用于定量分析。;PQ ExCell 等离子体质谱仪(ICP/MS);Agilent 7500系列ICP-MS;三、发射光谱分析方法
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