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存储器测试领域的CPC浅略分析 　　摘要：本文介绍了存储器测试领域的CPC分类体系，并对该领域的IPC分类和CPC分类进行了比较，同时结合实际案例的检索，阐述了CPC分类在该领域中对于提高检索效率的重要意义。 　　一、引言 　　随着专利申请量的不断增长，各个库中的文献量也是与日俱增，这给审查员的检索带来了新的挑战，于是需要一种高效的检索方式来提高工作效率。 　　常用的检索方式是分类号加关键词，现有的分类体系中，国际专利分类体系IPC被广泛使用，此外，还存在ECLA，USPC，FI/FT等多种分类系统。然而每种分类体系都有其局限性，因此，在2010年10月25日，EPO和USPTO联合启动CPC项目，其基于IPC分类体系建立，主要以ECLA分类体系作为整个分类体系的基础，同时还结合了美国专利分类体系UC的实践经验。CPC分类体系包含的条目数量有25万，文献覆盖范围包括45个以上的国家和地区，每年有多次修订更新，由EPO和USPTO共同管理维护。 　　因此，学习和研究CPC分类体系和结构，对今后的检索实践具有重要的意义。 　　二、存储器测试领域的IPC和CPC分类比较 　　UA034审查单元中涉及存储器测试的IPC分类号为G11C29/00大组，是对存储器正确运行的校验，其下有5个一点组，分别从备用电路的检测或定位、存储元件的检测或定位、存储器内量保护、检测电路的设计装置、静态存储器的外部测试装置5个方面进行分类。下面分析比较它们在IPC和CPC两大分类体系中的分类情况。 　　首先对G11C29/00下主要一点组的分类条目进行统计，如表1所示（截止2016年5月）。 　　可见，CPC对上述一点组都进行了进一步的细分，尽管对于G11C29/02和G11C29/56的细分条目不算多，但相比于原来只具有其本身来说已经有了很大的进步，下面将具体介绍CPC是如何对G11C29/02进行细分的。 　　从表2看到，CPC对备用电路的检测位置进行了详细的划分，包括电压电流发生器、时钟发生器、解码器等，这样的划分能够使技术内容的分类位置更加准确，而不像IPC中全部杂乱无章的放在一个分类号G11C29/02下，审查员能够根据损坏电路的检测位置确定准确的分类号，从而提高检索效率。 　　上述对G11C29/02的CPC分类都是在原有IPC分类结构的基础上的进一步细分，体现了CPC和IPC良好的适应性，不仅如此，CPC还对G11C29/00进行了很好的扩充，增加了原来IPC分类中所没有的一点组G11C29/70，该分组从使用备份存储器或通过重新配置向用户屏蔽掉存储器故障的角度进行划分，列举部分分类如下： 　　三、CPC分类号在检索中的应用 　　【案例一】 　　权利要求1： 　　1. 一种存储器设备包括： 　　动态随机存取存储器（DRAM）；以及与DRAM耦合的系统元件，系统元件包括：用于控制DRAM的存储器控制器，以及与存储器控制器耦合的修复逻辑，修复逻辑持有被标识为对于DRAM的缺陷区域的失效地址的地址；其中修复逻辑被配置成接收存储器操作请求并且实现用于针对请求的操作地址的冗余修复。 　　权利要求的分析：本申请涉及存储器冗余修复，识别DRAM中的缺陷区域，将缺陷区域的地址保存在修复逻辑存储器中，接收存储器操作请求，在操作地址为缺陷区域的地址时，由修复逻辑对操作地址进行冗余修复，从而使存储器能够正常运行，因而本申请属于存储器正确运行的校验技术领域，IPC分类号为G11C29/00。 　　576篇文献量太大，又找不到其他准确的关键词继续进行限定，再次仔细分析权利要求的技术方案，权利要求中修复逻辑对请求的操作地址的冗余修复包括两种情况：一种是当修复逻辑判断操作地址为存储器缺陷部分的地址时，使操作地址指向修复逻辑存储器，由修复逻辑存储器响应存储器操作请求，因而以对存储器控制器透明的方式提供在所选地址处的读写；另一种是采用地址转换器将对缺陷地址的访问请求转移到存储器好的部分进行读写操作，避开存储器的缺陷部分，基于对技术方案的准确把握，查找CPC分类表，找到如下分类号： 　　回过头来分析上述案例，其实对比文件US2010110745A1是有中文同族的，之所以在中文库中没有检索到，是因为中文同族给的IPC分类号并没有G11C29/00，而如果仅仅只使用关键词来进行检索，又会有关键词扩展不全而造成漏检的问题。分类号G11C29/76和G11C29/04则能够很好的反映本申请的技术手段，因而找到好用的分类号能够准确并快速地定位到对比文件，让检索事半功倍。 　　四、总结 　　通过以上两个案例的分析，可以看到CPC分类号在提高检索效率和检索准确性方面起到了重要的作用，可见，CPC分类号在存储器测试及数字输入输出领域的细分还是比