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第六章 存储系统
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第一节 存储器概述
一、存储系统:由多种不同工艺的存储器组成
二、存储器分类:
1、按存储介质:半导体、磁介质、光介质等。
2、按信息的可保存性:易失性、非易失性
3、按存取方式:RAM、ROM、SAM、DAM
4、按在计算机系统中的功能:
主存储器、辅助存储器、Cache存储器和控制存储器
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第一节 存储器概述
三、存储器的主要技术指标:容量、速度、位价格
四、存储系统的分层结构:
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第二节 随机存取存储器和只读存储器
1、静态 RAM 芯片(SRAM)
(1)静态 MOS 存储单元电路举例
一、 RAM 芯片
所用器件主要有双极型和MOS型两类,可分为 SRAM芯片和DRAM芯片两种。
SRAM特点:存取速度快、集成度低、功耗大 DRAM特点:存取速度较SRAM慢、集成度高、 功耗小
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? 定义:
T1导通、T2截止,存“0”
T2导通、T1截止,存“1”
? 保持状态:
行选择线Xi 低,T5、T6管截止
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读操作:行选择线Xi加高电平
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(2)SRAM 存储芯片举例 (Intel 2114)
内部结构(1K*4位) 每个位平面1024单元(64行*16列)
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内部结构
(2)SRAM 存储芯片举例 (Intel 2114)
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引脚
(2)SRAM 存储芯片举例 (Intel 2114)
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(1)单管 MOS 动态存储单元电路
定义: C有电荷,存“1” C无电荷,存“0”保持状态: 字线及位线均为低电平。
2、 动态 RAM 芯片(DRAM)
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工作状态:
写操作:字线Z加高电平
写“1”:位线W加高电平,经T对C充电(V1)
写“0”:位线W加低电平,电容C经T放电(V0)
写结束:字线Z、位线W加低电平。
读操作:先对位线W预充电,使其分布电容C1充电至
Vm=(V1+ V0)/2 ,然后字线Z加高电平。
若原存“1”:C经T向位线W放电,使W电平上升;
若原存“0”:则W经T向C充电,使W电平下降。
为破坏性读出,需立即重写。
2、 动态 RAM 芯片(DRAM)
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内部结构
(2)DRAM芯片举例 Intel 2116 (16k*1位)
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引脚及功能 16脚封装
(2)DRAM芯片举例 Intel 2116 (16k*1位)
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(3)动态存储器的刷新
每隔2ms周期对存储体中全部的存储电容充电,以补充所消失的电荷,维持原存信息不变,这个过程被称为“刷新”(按行刷新)。
最大刷新周期:全部刷新一遍所允许的最大时间间隔。
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