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CMU 200的测试模式和基本设置 CMU 200的测试模式(TEST Modes) GSM的测试方式有二种一种是非发信号测试、另一种是发信号测试。非发信号测试模式---最典型用于模块和手机的测试，是一种“特殊的测试模式”；发信号测试模式---用于对手机的综合测试，这种状态下CMU相当于GSM的基站，此部分内容现在省略。以下是发信号测试模式(Signalling Mode)提介绍 开机后，出现如下界面： 测试频段选择 选择测试频段后将进入如下画面: 拨号到手机 发信息至手机 选中此项进行射频线损补尝，如下图 GSM频段补尝参数设置 GSM连接端口设置 DCS连接端口设置 DCS频段补尝参数设置 补尝参数设置完后，选中Connection项准备测试，此时用射频线将手机与综测仪连接再开机，然后拨打112进行测试，将展开如下画面： Connection 参照测试标准，得出手机的性能指标 手机各项指标测试 功率等级设置 测试信道选择 返回菜单 发射功率及发射轨迹测试 相位峰值、均方值及频率误差 频谱测试 误码率测试 基站功率设置 测试信道选择 发射功率等级选择 在控制在面板上按SET UP键可进行基本配置 ，弹出如下画面: 综测仪地址配置 综测仪基本配置属性 时间设置 声音设置 1、。。。。。。 2、。。。。。。 3、。。。。。。 4、。。。。。。 生产技术部 宗金圣 * 典型的七彩背光电路： 分别在三个场效应管的栅极加上控制电压（高低电平），就可以根据信号高低电平的不同组合发出不同颜色的背光。 十二、各种模块电路： 1、 VCO——压控振荡器： VCO VCO在手机电路中和其他电路一起组成一个闭环的控制系统，为手机提供发射和接收的本振信号，也称之为——锁相环。 MOD PHD IP IN QP QN 中频IC VCO VCC PA VCO 频率合成器 13M 2、天线开关、双工合路器： 天线开关和双工合路器在手机电路中的功能相似，其功能可以相互替代，现在的手机使用双工合路器者居多。 双工合路器的作用可以形象的比作是交通路的红绿灯。 早期的移动通信产品多为单工通信，发射和接收不能同时进行，现在的双工通信由于采用了发射和接收之间的高速切换，使人无法感觉到信号之间的打结，从而实现发射和接收的同时进行。 控制 RX ON TX ON 最常用的日立公司的产品 十三、存储器： 手机中的存储器在所有IC中起着很重要的作用。 按类型可分为三种： 1、FLASH ——也有的资料称为字库或版本，用于存储手机的底层软件也就是物理层，包括整机的工作程序、通信协议等。 生产时通过烧录器将软件写入FLASH中，用户不可改写，掉电后数据不会丢失，常见型号有INTEL 公司的 F160、F320、F640。 2、EEPROM——也称为码片，主要存储手机的应用软件，包括菜单、电话簿以及IMEI等，用户可以改写部分数据，掉电后数据不会丢失。常见的型号有INTEL公司的28F128和 ST公司的24C64等。 3、SRAM——静态随机存储器，用于手机工作时临时存放数据，掉电后数据全部丢失。 现在很多手机将以上三种存储器合并为一个IC统称为 FLASH。 1、FLASH和SRAM有什么不同？ 2、PA的作用是什么？ 第四部分：常见故障的排除方法 基本原则： 1、熟悉电路工作原理 2、了解元器件的名称及作用 3、化整为零、逐步排除 4、先易后难、根据信号流程检查 5、采用替换法排除 6、多看多想少动手 7、总结经验、举一反三 一、不开机故障的排除 手机能够正常开机必须具备的基本条件： 1、电源正常输出各种电压 2、时钟信号正常 3、复位信号正常 4、软件程序支持 5、系统自检通过 6、开机维持信号的产生 根据以上条件逐步排除，缩小目标。 另外常见的手机开机方式有两种： 1、触发式开机 2、长按式开机