光伏组件PID效应测试仪.pdfVIP

Wearetrustedasweareprofessional Wearetrustedasweareprofessional WWeeaarreettrruusstteeddaasswweeaarreepprrooffeessssiioonnaall PID 效应测试仪 设 计 方 案 苏州诺威特测控科技有限公司 2012 年5 月 Wearetrustedasweareprofessional Wearetrustedasweareprofessional WWeeaarreettrruusstteeddaasswweeaarreepprrooffeessssiioonnaall 目 录 一、情况说明 二、方案概要 三、功能特点 四、设备配置 五、技术参数 六、原理图 七、外围要求 Wearetrustedasweareprofessional Wearetrustedasweareprofessional WWeeaarreettrruusstteeddaasswweeaarreepprrooffeessssiioonnaall Wearetrustedasweareprofessional Wearetrustedasweareprofessional WWeeaarreettrruusstteeddaasswweeaarreepprrooffeessssiioonnaall 一、 情况说明 光伏应用越来越多，电站规模越来越大，组件串联的数目不断增大。这样，太阳 能组件承受高对地势能的几率越来越大。当系统的一端接地时，距离接地端最远的组 件对地将产生较高的电势，美洲接近600V，欧洲接近1000V。一般来说，泄漏电流是 经过封装材料、铝边框或安装支架流入大地的。泄漏电的大小与电池片材料及工艺、 组件材料及工艺、系统安装方法、环境温度、环境湿度等因素有关。长期泄漏电将使 电池片载流子及耗尽层状态发生变化、电路中的接触电阻受到腐蚀、封装材料受到电 化学腐蚀，从而导致电池片功率衰减、串联电阻增大、透光率降低、脱层等影响组件 长期发电量及寿命的现象。 对组件来说，泄漏电途径如下图所示。 I EVA I EVA I 泄漏电的途径主要经过玻璃（ ）、 与玻璃的界面（ ）、 （ ）、背板材 1 2 3 料（ ）和边框密封材料等到达边框。I 4 二、 方案概要 本方案根据组件内部对地产生高电压的原理，通过在组件内部和边框之间持续长 时间施加高电压，模拟组件正常工作状态。配合EL 测试仪和功率测试仪，可看出经 过长期高压泄漏电测试后的EL 变化及功率变化。通过改善电池片原材料及制造工艺、 组件原材料及封装工艺等提高组件的反PID 效应，提高产品质量。 三、 功能特点 本方案有以下功能特点： Wearetrustedaswearep