第十三章 原子吸收分光光度法(第七版).ppt

电离干扰（ionization interference） 现象： 待测元素在原子化过程中发生电离，使参与吸收的基态原子数减少而造成吸光度下降。 消除方法： 加入消电离剂（易电离元素） 基体干扰（mareix interference） 现象： 试样在处理、转移、蒸发和原子化过程中，由于试样物理特性的变化引起吸光度下降。 消除方法： 可通过控制试液与标准溶液的组成尽量一致的方法来抑制。 光学干扰（optical interference） 原子光谱对分析线的干扰。包括光谱线干扰和非吸收线干扰。 现象 光谱线干扰是试样中共存元素的吸收线与待测元素的分析线相近（吸收线重叠）而产生的干扰。 消除方法： 另选波长或用化学方法分离干扰元素。 非吸收线干扰是一种背景吸收（background absorption）。 现象： 原子化过程中生成的气体分子、氧化物、盐类等对共振线的吸收及微小固体颗粒使光产生散射而引起的干扰。 消除方法： 邻近线法、连续光源（在紫外光区通常用氘灯）法、塞曼（Zeeman）效应法等。 化学干扰（chemical interference） 现象： 在溶液或气相中由于待测元素与其他共存组分之间发生化学反应而影响待测元素化合物的离解和原子化。 消除方法： 加入释放剂、加保护剂、适当提高火焰温度等。 被测元素浓度含量或改变一个单位，吸光度的变化量。 火焰原子吸收法中常用“特征浓度”表达式： 灵敏度（sensitivity） 非火焰法(石墨炉)中常用“特征质量”表示 ： 信号等于空白溶液的测量信号的标准偏差3倍时所对应的的浓度（ug/ml）或质量（g或ug）来表示。 计算公式为： 检出限 （detection limit） 定量分析方法 标准曲线法： （A～c ）( 同分光光度法 ) 标准加入法：（增量法） 当试样基体影响较大，又没有纯净的基体空白，或测定纯物质中极微量的元素时，可以采用此法。 待测溶液的浓度可用计算法和作图法 cx+0， cx+cs ， cx +2cs ， cx +3cs ， cx +4cs…… 分别测得吸光度为：A0，A1，A2，A3，A4……。 如将直线外推至与横坐标相交，此时浓度cx即为试样中被测元素的浓度。 外推作图法 仪器分析 第十三章 原子吸收分光光度法 第一节 原子吸收分光光度法的基本原理 光谱项(spectral term) 描述核外原子量子能级的形式 n M LJ 主量子数 （价电子所处电子层） 总角量子数 （电子的轨道形状，相应的符号： S、P、D等） 内量子数（光谱支项） 光谱项的多重性 （分裂能级数目） 原子的量子能级和能级图 原子能级图 光谱学中将原子所有各种可能的能级 状态用图解形式表示。 纵坐标 表示原子的能量E，单位是电子伏特(eV) 或波数(cm-1)。 横线 用光谱支项表示原子实际所处的能级。 原子从基态激发到能量最低的激发态（称为第一激发态），为共振激发，产生的谱线称为共振吸收线。 共振线是元素所有谱线中最灵敏的谱线。常用元素最灵敏的第一共振吸收线作为分析线。原子吸收线一般位于光谱的紫外区和可见区。 原子在各能级的分布 理论研究和实验观测表明，在热平衡状态时，激发态原子数Nj与基态原子数No的关系可用玻尔兹曼 （Boltzmann）方程表示 一般在原子化温度（＜3000K）大多数元素的最 强共振线都低于600nm， Nj/ No值绝大部分在10-3（＜1%）即Nj 与No相比，激发态原子数可以忽略 。 原子吸收线 原子吸收过程 原子吸收线的轮廓和变宽 若将吸收系数Kv 对频率v 作图，称为原子吸收线的轮廓。 若将透过光强 (I0) 对频率v 作图由图可见在中心频率处透过光强度最小。（红线表示部分） 半宽度(half width) 指中心频率( )的吸收系数一半处谱线轮廓上两点之间的频率差。吸收线的半宽度主要受下列因素的影响。 分两类： 由原子本身的性质决定,如谱线的自然宽度和同位素效应。 由外界影响引起，如热变宽、压力变宽、电场变宽、磁场变宽、自吸变宽等。 自然宽度（natural width ， ） 在无外界影响下，谱线固有的宽度。激发态原子的寿命愈短，吸收线的自然宽度愈宽。 多数情况下，可忽略不计。 多普勒变宽（Doppler broadening， ） 由无规则的热运动产生，所以又称为热变宽，是谱线变宽的主要因素。 测定的温度越高，被测元素的原子质量越小，原子的相对热运动越剧烈，热变宽越大。 赫鲁茲马克变宽（