第三章 准直和自准直.ppt

* 光学检测技术-测控技术 * DII-180 * 光学检测技术-测控技术 * 90角?是大于90度还是小于90度? 调视度:正视度,双像靠近则大于90度,反之小于90度. 半边遮挡: 同边的双像消失则大于90度,反之,小于90度 * 光学检测技术-测控技术 * DIIJ-90 * 光学检测技术-测控技术 * * 光学检测技术-测控技术 * 90角?是大于90度还是小于90度? 半边遮挡: 同边的双像消失则大于90度,反之,小于90度 * 光学检测技术-测控技术 * DII-180(角锥棱镜) 35.16度 54.44度 要求,直角具有高准确度 * 光学检测技术-测控技术 * 补偿棱镜法 O A B C * 光学检测技术-测控技术 * 斜入射法: O A B C * 光学检测技术-测控技术 * 准直和自准直 1 激光束的准直和自准直 2 自准直法测量光学零件的平行度 3 自准直法测量曲率半径 光学检测技术-测控技术 * 光学检测技术-测控技术 * 准直和自准直 1 激光束的准直和自准直 2 自准直法测量光学零件的平行度 3 自准直法测量曲率半径和焦距 * 光学检测技术-测控技术 * 1 激光束的准直和自准直 1.1 激光束的准直 1.2 激光束的自准直 * 光学检测技术-测控技术 * 1.1 激光束的准直 采用倒装的望远系统实现光束准直 * 光学检测技术-测控技术 * * 光学检测技术-测控技术 * For a Gaussian beam, the complex electric field amplitude is given by r is the radial distance from the center axis of the beam, z is the axial distance from the beams narrowest point (the waist), E0 = | E(0,0) | , w(z) is the radius at which the field amplitude and intensity drop to 1/e and 1/e2 of their axial values w0 = w(0) is the waist size (described in more detail below). The functions w(z), R(z), and ζ(z) are parameters of the beam, which we define below. * 光学检测技术-测控技术 * * 光学检测技术-测控技术 * * 光学检测技术-测控技术 * * 光学检测技术-测控技术 * 1.1 激光束的准直 零阶贝塞尔光束 * 光学检测技术-测控技术 * 实现1 * 光学检测技术-测控技术 * * 光学检测技术-测控技术 * * 光学检测技术-测控技术 * 实现1: 轴锥镜 * 光学检测技术-测控技术 * * 光学检测技术-测控技术 * * 光学检测技术-测控技术 * * 光学检测技术-测控技术 * * 光学检测技术-测控技术 * * 光学检测技术-测控技术 * 1 激光束的准直和自准直 1.1 激光束的准直 1.2 激光束的自准直 * 光学检测技术-测控技术 * 1.2 激光束的自准直 平面镜反射-平面波 相位共轭面-任意波 * 光学检测技术-测控技术 * 平面镜反射-平面波 * 光学检测技术-测控技术 * 相位共轭面-任意波 * 光学检测技术-测控技术 * 相位共轭面-任意波 布里渊散射1 四波混频 1 B.Ya. Zel’dovich, V.I.Popovichev, V.V.Ragulskii and F.S.Faisullov, “Connection between the wavefronts of the reflected and exciting light in stimulated Mandel’shtam Brillouin scattering,” Sov. Phys. JETP , 15, 109 (1972) * 光学检测技术-测控技术 * 四波混频 * 光学检测技术-测控技术 * 四波混频 * 光学检测技术-测控技术 * 准直和自准直 1 激光束的准直和自准直 2 自准直法测量光学零件的平行度 3 自准直法测量曲率半径和焦距 * 光学检测技术-测控技术 * 2 自准直法测量光学零件的平行度 2.1 介绍 2.2 测试原理 2.3 反射棱镜的平行度测量 * 光学检测技术-测控技术 * 2.1 介绍 * 光学检测技术-测控技术 * 2.2 测试原理 * 光学检测技术-测控技术 * 2.3 反射棱镜的平行度测量 DI-90 * 光学