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5.5连续系统的串联校正,连续系统串联校正,串联滞后校正,串联校正,串联超前校正,串联滞后校正课程设计,串联校正装置,自动控制系统的校正,系统的性能指标与校正,控制系统的校正
5.5 连续系统串联校正 5.5.1 实验目的 1. 通过实验掌握用频率特性法分析自动控制系统的动态特性,研究串联校正装置对系统的校正作用,并学习调试校正参数的方法。 2. 熟悉和掌握系统过渡过程的测量方法。 3.进一步学习用Multisim、MATLAB仿真软件对实验内容中的电路进行仿真。 5.5.2实验原理 当系统的开环增益满足其稳态性能的要求后,它的动态性能一般都不理想,甚至会发生不稳定。为此需在系统中串接校正装置,既使系统的开环增益不变,又使系统的动态性能满足要求。 按希望对数幅频特性对系统进行串联校正,是一种既简单又有一定准确性的工程设计方法。希望对数幅频特性是按规定的性能指标绘制的,它就是校正后系统的特性。这种方法可以综合任何一种形式的校正装置(有源,无源),因此,在设计自动控制系统中,使用范围很广,但是它只适用于最小相位系统,因为最小相位系统的对数幅频特性和相频特性之间有确定性关系,按幅频特性的形状就能确定系统瞬态响应的特性。综合的步骤举例说明如下: (1) 根据规定的性能指标绘制希望对数幅频特性,并绘制原系统的对数幅频特性,如 图5.5.1所示,实线为原系统特性,虚线为希望特性. 图5.5.1 系统希望频率特性图 (2) 将它们进行比较,求出校正装置的对数幅频特性; (3) 确定校正装置的型式和参数。 设希望的开环传递函数为,原系统的传递函数为,串联校正装置的传递函数为,于是有: 即 其对数幅频特性是: 式中-原系统对数幅频特性 -校正后的希望对数幅频特性 -校正装置的对数幅频特性 上式说明,给出希望对数幅频特性和原系统的对数幅频特性后,故可得到校正装置的对数幅频特性。 5.5.3 实验内容 1. 串联超前校正 系统超前模拟电路如图5.5.2所示,串联超前校正电路结构框图如图5.2.3所示。图中开关K断开对应未校正情况,接通为对应超前校正。观测校正前后系统的阶跃响应。 图5.5.2 串联超前校正电路 图5.2.3串联超前校正电路结构框图 图中的传递函数是: 校正前 校正后 2. 串联滞后校正 串联滞后校正模拟电路如图5.5.4所示,滞后校正电路结构框图如图5.5.5所示。图中开关K断开对应未校正情况,接通为对应滞后校正。观测校正前后系统的阶跃响应。 图5.5.4 滞后校正电路 图5.5.5滞后校正电路结构框图 图中的传递函数是: 校正前 校正后 3. 串联超前-滞后校正 串联超前-滞后校正模拟电路如图5.5.6所示,串联超前-滞后校正模拟电路框图如图5.5.7所示。图中开关K1和K2同时断开对应未校正情况,同时接通为对应串联超前-滞后校正。观测校正前后系统的阶跃响应。 图5.5.6 串联超前-滞后校正模拟电路 图5.5.7 串联超前-滞后校正模拟电路结构框图 图中的传递函数是: 校正前 校正后 5.5.4 实验步骤 1. 测试系统与计算机的连接 (1) 启动计算机,在桌面双击图标[自动控制实验系统]运行软件。 (2) 测试计算机与实验箱的通信是否正常,通信正常继续。如通信不正常查找原 因使通信正常后才可以继续进行实验。 2. 串联超前校正系统实验步骤 (1) 连接被测量典型环节的模拟电路(图5.5.2串联超前校正电路),电路的输入R(S)接A/D、D/A卡的D/A1输出,电路的输出C(S)接A/D、D/A卡的A/D1输入。检查无误后接通电源。 (2) 选中[实验课题一连续系统串联校正一超前校正]菜单项,鼠标点击将弹出参数设置窗口。系统加入阶跃信号。参数设置完成后鼠标点击确认,测量系统阶跃响应,并记录超调量σ%和调节时间ts。 (3) 开关K接通,重复(2)的步骤,将两次所测的波形进行比较。 3. 串联滞后校正系统实验步骤 (1)连接被测量典型环节的模拟电路(图5.5.4串联滞后校正电路),电路的输入R(S)接A/D、D/A卡的D/A1输出,电路的输出C(S)接A/D、D/A卡的A/D1输入。检查无误后接通电源。 (2) 选中[实验课题一连续系统串联校正一滞后校正]菜单项,鼠标点击将弹出参数设置窗口。系统加入阶跃信号。参数设置完成后鼠标点击确认,测量系统阶跃响应,并记录超调量σ%和调节时间ts。 (3) 开关K接通,重复(2)的步骤,将两次所测的波形进行比较。 4. 串联滞后校正系统实验步骤 (1)连接被测量典型环节
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