ICP-AES分析中干扰及其校正方法的进展(II).pdfVIP

第 1 8 卷, 第5 期　　 　光　谱　学　与　光　谱　分　析 V o l 18,N o 5, pp 587589 1 9 9 8 年 1 0 月　　 　Spectro scopy and Spectral A nalysis O ctober, 1998　 ( ) - 分析中干扰及其校正方法的进展 ICP AES 李　帆　　　　　　　　　　　　　范　健 北京航空材料研究所分析化学研究室, 100095　北京　　　　　中南工业大学测试中心, 410083　长沙 ( ) * 摘　要　本文对 分析中的光谱干扰继续进行综述。本文继 而继续对 分 ICP A ES ICP A ES 析中的光谱干扰进行综述。 主题词　 ICP A ES 校 正 方 法 　　一、离峰扣背景法 　　背景的存在会使分析线信号测量值产生正的偏离, 背景发射强度总是叠加在分析线发射强度上, 使分析 结果准确度变差。离峰扣背景方法是在离峰位置测量背景强度, 从而达到扣除背景干扰的目的。这种离峰背景 校正技术在 中已普遍适用, 在 仪器中常采用光谱位移器来扣除背景干扰。此方法的缺点 ICP A ES ICP A ES 是当背景分布不均匀时, 由于存在波长漂移, 测量得到的背景值有时与谱线位置的数值不一致, 甚至使背景校 正失败。 　　二、谱峰分离方法 　　基于光谱谱线的加和性原理, 将重叠的谱峰按一定数学模型分解为两个或两个以上组分的谱峰, 可以有 效地消除谱线重叠干扰。为达到这一目的, 沈兰荪等[1, 2 ] 提出用M 个单一 Gaussian (L o rentzian 或 P sedo V o iget) 曲线与二次背景相加作为光谱干扰的数学模型函数, 以非线性最小二乘算法为基础, 根据实际情况完 成波形分解, 模拟实验的结果很好。自模型曲线分辨法(SM CR ) 可以简便、快速地对谱线重叠的光谱干扰进行 [3 ] 校正。张卓勇等 对 SM CR 中的校正计算进行了研究和讨论, 进一步提高了 SM CR 校正严重谱线重叠干扰的 准确性。 技术不用改进光谱仪系统, 就可使实际分辨率提高10～ 20倍以上, 是一种很有发展潜力的校 SM CR 正方法。 　　三、卡尔曼 (Kalman ) 滤波法 ( ) ( ) 　　卡尔曼滤波法 KF 通过对一系列带有噪声 误差 的实际测量数据进行处理, 滤除干扰或噪声, 得到有用 的各状态的估计值。这种方法能校正各种类型的光谱干扰, 不需要进行样品基体匹配, 可简便、准确地处理数 据。黄厚今等[4, 5 ] 研究了卡尔曼滤波法对五种类型的光谱干扰的校正, 通过比较证实了卡尔曼滤波法明显优于 干扰系数法和离峰扣背景法, 指出在自适应噪声抵消的基础上发展起来的自适应卡尔曼滤波( ) 法在校 A KF 正光谱干扰方面优于常规卡尔曼滤波法( ) 。沈兰荪等利用