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2017-08-14 发布于安徽
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机辅纳米晶软磁薄膜性能测试研究.pdf

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机辅纳米晶软磁薄膜性能的测试研究张怀武，石玉，苏桦电子科技大学微电子与固体电子学院摘要：软磁纳米晶材料磁性能测试及分析是近期国内外磁电信息材料领域研发的热点。本文基于纳米晶材料的微磁学和各向异晶机理建立软磁性能测试分析模型，提出一种新的测试方法，并设计制作出相关磁场回路，放大电路和接口电路，结合HP4175A系统。对软磁薄膜材料的矫顽力Hc，一饱和磁感应强度Bs，剩磁感应强度Br，磁导率的频率特性进行测试。矫顽力测试精度在±0．OlOe，饱和磁感应强度精度在0．1高斯，经过对大量的各种软磁薄膜测试，表明该测试系统稳定可靠，是纳米材料表征的良好测试仪器。关键词：纳米材料，测试技术，测试仪器。 rtl MeasurementofNanometer ThinF．I Properties Study SoftmagnetiC Meansof by Computer huaiwuShi Suhua Zhang yu measurementofsoft materialand is magnetic Abstract：properties nanocrystal analysis attention．Basedon and new micromagnetic touchingpeople’s anisotropymoldel，aanalysis andmeasurementmethodhavebeen inthis have the field given paper．Wedesignedmagnetic eombinationwithHP circuitandinterfacecircuit．In 4175Ameasurement loop system，the ofthinfiIm as materials．such field(Bs)and propertiesparameter eoercivity(Hc)．induced beenmeasured．Precisionofmeasurementinducedfieldis0．IGs．and permeability(u)have haveconfirmedthe is newmeasurement itcan coercivity0．010e．Manyexperiments system，and film beusedto asvallasdecidethin analyie properties．