一种研究一维光子晶体缺陷模的新方法——解析法.pdfVIP

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2017-08-21 发布于重庆
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一种研究一维光子晶体缺陷模的新方法——解析法.pdf

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38 8 Vol. 38, No. 8 2008 8 LASER INFRARED August, 2008 : 1001-5078( 2008) 08-0799-03 # 光电材料与器件# ) ) ) 刘启能 (, 00067) : 为了解析地研究一维光子晶体的缺陷模, 利用多光束干原理和布洛赫定理, 推导出一维光子晶体缺陷模的解析公式利用它对一维光子晶体的缺陷模进行了解析研究, 得到了缺陷模的变化规律这一方法克服了特征矩阵法和 F- P法不能对缺陷模进行解析分析的弱点, 是一种研究一维光子晶体缺陷模的精确和有效的方法 : 光电子学; 光子晶体; 缺陷模; 解析方法 : O 36 : A A N ew M ethod of Study the D efectM ode of One-dim ensional Photonic C rystal LIU Q i-neng ( C alcu lator Science College of Chongqing Technology and Bus iness University, Chongq ing 00067, Ch ina) A b stract: For analytic studying the defect mode of 1D photon ic crystal, the mu ltiple-beam interference m ethod and B loh theorem are adopted, the analytical formu la of defect m ode is derived and the defectm ode of 1D photon ic crystal is stud ied. The variety regu lation of defectm ode is obtained. Them ethod avoided the characteristicm atrixm ethods and the F-P m ethodsw eakness that canct carry on analysis defect m ode. The m ethod is valid and accurate m ethods that study the defect m ode of 1D photonic crystal. K ey w ords: optoelectron ics; photon ic crystal; defect m ode; analytic method 1 , , , , , , , 1987 S. John 2 [ 1- 2] E. Y ablonovitch , A, B , A n ,