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SPC的定义 SPC ( Statistical Process Control 统计制程控制 ) 是由制程调查来改进制程能力,不断降低产品品质的 变异性,而达到提升产品品质的一种方法,其主要工具 为控制图. SPC的发展历史 1910年由费雪爵士(Sir Ronald Fisher)所发展出来的统计理论. 1924年美国贝尔实验室休华特博士 Dr.W.A.Shewhart)为解决公差标准化制定问题,研究产品品质次数分配时发明了控制图. 1940年二次大战期间,由于巨大军事需要,SPC正式引进制造业. 统计性思考案例 统计性思考案例 统计性思考案例 统计性思考案例 何谓统计 统计学的定义 推行统计学的意义 二.不良率控制图( P Chart ) P Chart - 不良率控制图 P Chart - 不良率控制图 P Chart控制线的计算﹕ 中心线﹕CLP=P = ∑d/ ∑ni 控制界限﹕ UCL=P+3√ LCL =P-3√P(1-p)/ni P Chart - 不良率控制图实例 P Chart 控制线的計算 P Chart控制线的計算﹕ 中心线﹕CLP=P = 298/(240*30)=0.041=4.1% 控制界限﹕ UCL=P+3√ =0.041+3 √ =0.41+3*0.0128=0.0794=7.94% LCL =P-3√ =0.41-3 √ =0.0026=0.26% P Chart - 不良率控制图 P Chart - 不良率控制图 控制图的判讀 例题:用X-R控制图来控制AGP GAP,尺寸单位为mm,请 利用下列数据数据,计算其控制界限并绘图. 制品名称:AGP 机器号码:RK006 品质特性:GAP 操 作 者:55230 测定单位:mm 测 定 者:58664 制造场所:A线 抽样期间:03/10/99~03/12/99 1.收集数据並記入数据记录表 2.计算各組X 3.计算各組R值 4.计算总平均( X ) X= = (0.63+0.64+0.68+0.66+0.68+0.68+0.68+0.66+0.66 +0.65+0.62+0.62+0.63+0.64+0.67+0.67+0.63+0.69 +0.67+0.62)÷20 = 0.66 x1+x2+x3+……+xk k 5.计算全距之平均值( R ) R= =(0.08+0.07+0.06+0.09+0.10+0.08+0.07+0.11+0.07 +0.08+0.08+0.08+0.08+0.07+0.11+0.11+0.10+0.07 +0.03+0.03)÷20 = 0.08 6.计算控制界限及绘出 X控制图 中心线 ( CLx ) = X = 0.66 控制上限 ( UCLx ) = X+A2R = 0.66+0.577 ╳ 0.08 = 0.70 控制下限 ( LCLx ) = X-A2R = 0.66-0.577 ╳ 0.08 = 0.61 R1+R2+R3+……+RK k R控制图 中心线 CLR = R = 0.08 控制上限 UCLR = D4R = 2.115 ╳ 0.08 = 0.17 控制下限 LCLR = D3R = 0 ╳ 0.08 = 0 7.将所求出之各X值及R值点入控制图上並将相邻两点用 直线连接 8.制程状态检讨 9.记入其它注意事项 P Chart常用的符號﹕ ni: 样本数﹐即样本所含的件数和个数﹔ d: 样本中的不良品数﹔ p﹕样本的不良品率 p = d/ni P﹕样本不良率的平均值 p = ∑d/ ∑ni p(1-p)/n i p(1-p)/n i 0.041(1