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2025年河南机关事业单位工勤技能岗位等级考试（无损探伤工·中级／四级）历年参考题库含答案详解

一、选择题

从给出的选项中选择正确答案（共50题）

1、根据GB/T3323-2005标准，射线检测中当被检材料厚度为80mm时，应选用哪种射线能量（kV）范围？

A.80-120kV

B.120-160kV

C.160-200kV

D.200-300kV

【参考答案】B

【解析】GB/T3323-2005规定，射线检测的管电压（kV）应与材料厚度匹配。80mm材料属于中厚板，对应120-160kV范围（C级胶片）。选项B符合标准，A适用于薄板（≤12mm），C和D用于更厚材料（＞200mm）。

2、磁粉检测中，缺陷显示最清晰的条件是（）

A.磁化方向与缺陷长轴垂直

B.磁化方向与缺陷长轴平行

C.磁化方向与缺陷长轴成45°角

D.无需考虑磁化方向

【参考答案】A

【解析】磁粉检测中，缺陷与磁化方向垂直时，磁通线畸变最显著，吸附磁粉最密集。选项A正确。B选项平行时畸变小，C选项45°角显示效果次之，D选项忽略磁化方向会导致漏检。

3、检测中，当声束折射角为30°时，缺陷反射信号在屏幕上的偏移量与（）成正比

A.材料声速

B.缺陷深度

C.脉冲宽度

D.检距离

【参考答案】B

【解析】超声波折射角导致声束偏移，缺陷深度越大，反射信号偏移量越大。公式：偏移量=缺陷深度×sinθ（θ为折射角）。选项B正确，A、C、D与偏移量无直接正比关系

4、渗透检测中，显像剂的作用是（）

A.填充缺陷

B.增强缺陷可见度

C.防止干燥收缩

D.提高渗透性

【参考答案】B

【解析】渗透检测中，显像剂通过毛细作用聚集在缺陷处，放大缺陷痕迹，便于观察。选项B正确。A错误因渗透液已填充，C和D与显像剂功能无关。

5、射线检测中，下列哪种缺陷易产生伪影（）

A.未熔合焊缝

B.未焊透焊缝

C.表面气孔

D.纵向裂纹

【参考答案】C

【解析】表面气孔在射线成像中可能因投影重叠形成伪影，而其他缺陷如未熔合、未焊透和裂纹的影像特征明显。选项C正确。

6、磁粉检测中，使用直流磁化时，磁化电流的频率应（）

A.高频

B.低频

C.无频率要求

D.与材料厚度匹配

【参考答案】B

【解析】直流磁化需低频（通常5Hz）以充分磁化材料，交流磁化则需高频。选项B正确，C错误因任何磁化方式均有频率要求。

7、超声波检测中，当缺陷位于晶界时，易产生（）

A.A型波

B.B型波

C.C型波

D.D型

【参考答案】C

【解析】C型波用于显示横截面缺陷，晶界处缺陷的横截面成像需C型检测。A型波为时域信号，B型为幅值云图，D型非标准术语。选项C正确。

8、渗透检测中，清洗时间不足会导致（）

A.缺陷显示模糊

B.胶膜不均匀

C.渗透剂残留

D.显剂失效

【参考答案】C

【解析】清洗不彻底会使渗透剂残留在表面，干扰后续显像和着色。选项C正确。A因清洗不净导致，B和D是其他环节问题。

9、射线检测中，当使用γ射线源时，防护屏蔽的主要考虑因素是）

A.材料厚度

B.射线能量

C.检测距离

D.管电压

【参考答案】B

【解析】γ射线能量高，需根据E=mc2计算防护所需材料厚度，与检测距离成反比。选项B正确，A、C、D与γ射线防护无关。

10、超声波检测中，当探头与工件接触不良时，易出现（）

A.材料声速异常

B.脉冲宽度变宽

C.噪声干扰

D.缺陷信号增强

【参考答案】C

【解析】探头接触不良导致声阻抗失配，反射信号减弱，背景噪声显著增加。选项C正确。A、B、D均与接触状态无关。

11、在磁粉检测中，缺陷与磁化方向平行时最易被发现的缺陷类型是？

A.纵向裂纹

B.横向裂纹

C.环形裂纹

D.晶界裂纹

【参考答案】A

【解析】磁粉检测通过磁场方向与缺陷长轴垂直时磁粉聚集最明显。纵向裂纹与磁化方向平行时，磁感线在裂纹处畸变最显著，磁粉吸附量最大。横向裂纹因与磁场方向垂直，磁通量变化小，吸附效果差。环形裂纹和晶界裂纹因几何形态特殊，吸附效果次之。

12、超声波检测中，当被检测材料为奥氏体不锈钢时，应优先选择的晶粒取向是？

A.平行于声束传播方向B垂直于声束传播方向

C.任意方向

D.与声束成45°角

【参考答案】B

【解析】奥氏体不锈钢晶界反射率低（B正确）。平行取向（A）易产生晶界反射，降低缺陷检测灵敏度；45°角（D）增加散射；任意方向（C）综合性能最差。检测规范规定：奥氏体不锈钢应垂直声束检测。

13、射线检测中，胶片处理时间过短会导致？

A.灰雾过度

B.像质下降

C.缺陷显示模糊

D.底片发黄

【参考答案】B

【解析】处理时间过短（B正确）会导致胶片未充分显影，缺陷边界模