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场发射扫描电镜介绍--JEOL

历史

日本電子光学研究所

JJapan

EElectron

OOptics

LLaboratory

历史

分辨率:50埃

1947年日本电子第一台透射电镜DA-1

捷欧路(北京)科贸有限公司

北京

上海

武汉

成都

广州

JapanElectronOpticsLaboratory

日本电子株式会社-捷欧路(北京)科贸有限公司

SEM

FIB

TEM

EPMA

电子光学产品的侧重点

•透射电镜：微区内部观察/结构与成分分析

•扫描电镜：微区表面观察和成份定性分析

•电子探针：微区表面成份准确定量分析

欢迎光临网站

http://www.jeol.co.jp

http://www.j

JEOL扫描电镜的发展历史

JEOLhasbeentheleaderinSEMtechnologydevelopmentforalmost50years.

1966WorldFirstSEMJSM-1

1974FESEMColdFEGJFSM-30

1977CompactFESEMJSM-F7

1987In-LensFESEMIn-LensDetectorJSM-890

1988Multi-purposeFESEMConicalFEGJSM-840F

1994Semi-In-LensFESEMSemi-In-lensJSM-6320F

HighperformanceObjectiveLens

2000Semi-In-LensFESEMJSM-6700F

Lens

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