光学元件表面未知缺陷的开放识别研究.pdf

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摘要

摘要

光学元件表面缺陷会降低其光学性能,进而严重危害光学系统整体的正常

运行。目前缺陷分类、检测与分割等基于深度学习的主流缺陷检测方法,针对

缺陷检测任务有着不同着重点的细化研究,虽然其在各工业领域缺陷检测中取

得了良好的性能表现,但多数基于深度学习有着“封闭”属性的模型,并不能

处理应对现实动态工业场景中可能遇到的“未知”类缺陷。因此,本文针对复

杂开放场景下的光学元件缺陷识别任务,提出了光学元件表面未知缺陷的开放

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