错牙合畸形的检查和诊断（口腔正畸学课件）.ppt

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2025-11-21 发布于上海
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一、X线头影测量的用途（选择）（1）研究颅面生长发育（2）牙颌面畸形的诊断分析（3）确定错合畸形的矫治设计，确定矫治后牙齿及颌骨能达到的理想位置，从而制定出正确可行的矫治方案（4）研究矫治前、矫治过程中及矫治后的牙、颌、面形态结构变化（5）外科正畸的诊断和设计（6）下颌功能分析（1）研究颅面生长发育不同个体同一年龄段—横向研究颅面发育同一个体各年龄段---纵向研究颅面发育明确了颅面生长发育机制，快速生长期的年龄、及对颅面生长发育的预测。（2）牙颌面畸形的诊断分析通过X线对正常合人的颅面结构进行分析得出正常合的各项测量参考标准