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ESDProtectionCircuits:Basics

tonano-metricASICs

ManojSachdev

UniversityofWaterloo

msachdev@ece.uwaterloo.ca

September2007

Outline

GroupIntroduction

ESDBasics

BasicESDProtectionCircuits

Nano-metricESDChallenge

ESDcircuitsfornano-metricregime

GroupIntroduction

5PhDs,2mastersand

2PDFs

Applied,industrially

drivenresearch

Generousfundinglevels

Corestrengthsincircuit

design,testing,quality

andreliability

Group:LowPowerResearch

Drivenbylowpowersignal

processingbio-implantable

applications

Researchfocus

Activepowerreduction,clocking

strategies

Dynamicvoltagescaling

architectureforportableapp.

Leakagepowerreduction:

InvestigationofRBBeffectiveness

withscaling44

Group:HighPerformanceCircuits

Drivenbyhighspeed

arithmeticcircuits(Adders,

registerfiles,ALU),andCDRs

Researchfocus

Tobuildtimingdiagnosticsinto

multi-GHzALUs

Leakageandactivepower

reduction

Clockde-skewing

Thermalissuesinhigh

performancecircuits55

Group:MemoryResearch

DrivenbyembeddedSRAMs

andSoftErrorRobustness

ResearchFocus

SRAMcellstabilityckt

techniquesfordetection

LowpowerembeddedSRAMs

SoftErrorRobustmemories

flip-flops

ErrorCorrectionCircuit’sfor

softerrormitigat

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